原子力显微镜是一种具有原子分辨率的表面形貌、电磁性能分析的重要仪器。产品简介 1981年，STM（scanning tunneling microscopy, 扫描隧道显微镜）由IBM-Zurich 的Binnig and Rohrer 发明。1982年，Binnig首次观察到原子分辨图Si(7x7)。1985年，Binnig, Gerber和Quate开发成功了首台AFM（atomic force microscope, 原子力...
AFM在纳米粒子研究中展现出显著优势，因为它能够直接进行成像，无需对样品进行表面修饰或涂层。这一特点使得科学家能够方便地对尺寸小于6纳米的微型纳米粒子进行分析，例如对掺杂离子的氧化钇（Y2O3）进行拓扑研究。与电子显微镜相比，AFM在表征低密度纳米材料方面更为出色，因为其能够提供高对比度的拓扑图像。此外，AFM还...
AFM原子力显微镜（Atomic Force Microscopy）是一种高分辨率的成像技术，可以观察到样品表面的纳米级细节。它通过检测样品与探针之间的相互作用力，来获取样品的表面形貌、硬度、弹性模量等物理性质。AFM原子力显微镜自20世纪90年代初问世以来，已经在材料科学、生物学、化学等领域取得了重要成果。一、AFM原子力显微镜的测试...
原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）是一种具有原子级别高分辨率的新型表面分析仪器，它不但能像扫描隧道显微镜（STM）那样观察导体和半导体材料的表面现象，而且能用来观察诸如玻璃、陶瓷等非导体表面的微观结构，还可以在气体、水和油中无损伤地直接观察物体，大大地拓展了显微技术在生命科学、物理、化学、材料...
原子力显微镜(Atomic Force Microscopy,AFM)是一种具有原子级别高分辨率的新型表面分析仪器,它不但能像扫描隧道显微镜(STM)那样观察导体和半导体材料的表面现象,而且能用来观察诸如玻璃、陶瓷等非导体表面的微观结构,还可以在气体、水和油中无损伤地直接观察物体,大大地拓展了显微技术在生命科学、物理、化学、材料科学和表...
部分素材来源:参考文献,维基百科,afmworkshop等, 视频播放量 167608、弹幕量 214、点赞数 12274、投硬币枚数 3370、收藏人数 7495、转发人数 725, 视频作者 机械小熊猫, 作者简介 咬一口科技的苹果片 合作: m-redpanda,相关视频:这刚砍下来的蛇头,还会开口,手指碰一
原子力显微镜(Atomic Force Microscopy,AFM),是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件(探针)之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。 AFM可以对样品表面形态、纳米结构、链构象等方面进行研究,获得纳米颗粒尺寸,孔径,材料表面粗糙度...
●导电探针原子力显微镜(C-AFM,Conductive Probe AFM):表面局部电子结构。 3.4.2 纳米力学模式 ●力调制显微镜(FMM,Force Modulation Microscopy):样品弹性的力幅和相位成像; ●横向力显微镜(LFM,Lateral Force Microscopy):摩擦力; ●力-距离曲线(F-D,Force Distance Sp...
二十世纪八十年代,纳米技术诞生并快速发展,扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope,STM)和原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)为此奠定重要基础,实现了材料表面的分子/原子级成像,并开启了纳米尺度的测量,但STM基于隧穿电流的工作原理,仅可用于表征导电的材料,而 AFM是基于针尖与样品之间原子作用力的探测,不...