1、接触模式：针尖与样品表面距离小，利用原子间的斥力；可获得高解析度图像；样品变形，针尖受损；不适合于表面柔软的材料；2、非接触模式：针尖距离样品5-20nm,利用原子间的吸引力，不损伤样品表面，可测试表面柔软样品；分辨率低，有误判现象；3、轻敲模式：探针在Z轴维持固定频率振动，当振动到谷底时与样品接触，...
一、接触模式(Contact Mode) 接触模式是最早开发的AFM工作模式。在这种模式下,探针尖端与样品表面保持接触,并通过探针与样品之间的相互作用力来维持恒定的偏置力;当探针在样品表面扫描时,悬臂梁的弯曲或振动会被检测器记录下来,从而得到表面的形貌信息。 1. 工作原理:悬臂梁带有探针,当探针接触样品表面时,由于相互作用...
为了弥补 STM 这一不足,1986年原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)被发明。AFM可以在真空、大气甚至液下操作,既可以检测导体、半导体表面,也可以检测绝缘体表面, 是研究纳米科学的重要工具。 AFM作为一个可以在纳米尺度对表面进行形貌和...
原子力显微镜（AFM）是一种强大的分析仪器，它能够研究固体材料的表面结构，包括绝缘体。其工作原理是检测待测样品表面与微型力敏感元件之间的微弱原子间相互作用力，从而揭示物质的表面结构和性质。AFM的操作模式根据针尖与试样表面相互作用力的变化而有所不同，主要有三种：接触模式、非接触模式和敲击模式。在接触模式下...
原子力显微镜(Atomic Force Microscope, AFM)是一种能够实现纳米级分辨率成像的技术,它不仅能够在空气、液体等多种环境下工作,而且可以提供样品表面的多种物理性质信息。AFM的多功能性使其成为材料科学、生命科学、化学和物理学等领域的研究利器。本文将探讨AFM的主要测试模式及其各自的适用场景。 1. 接触模式(Contact ...
原子力显微镜（AFM）是在扫描隧道显微镜（STM）的基础上发展起来的。与STM不同的是，AFM并非利用电子隧道效应，而是通过探测原子间的范德华力来揭示样品的表面特性。STM的工作原理限制了其只能研究导电样品的表面，无法对绝缘体表面进行检测。然而，AFM的诞生弥补了这一局限。它不仅能在真空、大气甚至液体环境下工作，...
1)接触模式 在静态模式中,静态探针偏转用做反馈信号。因为静态信号的测试与噪音和偏移成正比,低硬度探针用来增强外偏转信号。然而,因为探针非常接近于样品的表面,吸引力非常强导致探针切入样品表面。因此静态原子力显微镜几乎都用在总使用力为排斥力的情况。结果,这种技术经常被叫做“接触模式”。在接触模式中,扫描过程...
原子力显微镜有三种基本的工作模式,分别是接触模式、非接触模式和敲击模式。 一、接触模式(Contact Mode) 接触模式是最早发展的AFM工作模式。在这种模式下,探针与样品表面保持接触,并通过探针与表面之间的相互作用力来获得表面形貌信息。当探针在样品表面扫描时,探针与表面之间的作用力会发生变...
原子力显微镜AFM,Atomic Force Microscope具有SPM显微镜模式。 原子力显微镜特色 坚固可靠操作,科研级原子力显微镜和扫描探针显微镜 单原子步进分辨率为100x100um扫描 超高精度重复定位,扫描范围内没有边界畸变 高灵敏度较低力测量 非常适合软材料测量 模块化结构提供多种扫描探针模式详情请您放心点击浏览: https://www....
AFM(原子力显微镜) 应用之特殊模式应用简介 1力曲线 在基底上Ramp,设置参数得到力曲线,曲线横坐标是探针和样本之间的相对距离变化,纵坐标是探针与样品之间的作用力,蓝线是探针压入样品曲线(approach),红线是离开样品的曲线(retrace)。纵坐标线显示的就是两个原子之间(探针与样品之间)的作用力随着距离变化的一个情况,...