1、接触模式：针尖与样品表面距离小，利用原子间的斥力；可获得高解析度图像；样品变形，针尖受损；不适合于表面柔软的材料；2、非接触模式：针尖距离样品5-20nm,利用原子间的吸引力，不损伤样品表面，可测试表面柔软样品；分辨率低，有误判现象；3、轻敲模式：探针在Z轴维持固定频率振动，当振动到谷底时与样品接触，...
原子力显微镜(Atomic Force Microscope, AFM)是一种能够实现纳米级分辨率成像的技术,它不仅能够在空气、液体等多种环境下工作,而且可以提供样品表面的多种物理性质信息。AFM的多功能性使其成为材料科学、生命科学、化学和物理学等领域的研究利器。本文将探讨AFM的主要测试模式及其各自的适用场景。 1. 接触模式(Contact ...
一、接触模式(Contact Mode) 接触模式是最早开发的AFM工作模式。在这种模式下,探针尖端与样品表面保持接触,并通过探针与样品之间的相互作用力来维持恒定的偏置力;当探针在样品表面扫描时,悬臂梁的弯曲或振动会被检测器记录下来,从而得到表面的形貌信息。 1. 工作原理:悬臂梁带有探针,当探针接触样品表面时,由于相互作用...
原子力显微镜（AFM）是一种强大的分析仪器，它能够研究固体材料的表面结构，包括绝缘体。其工作原理是检测待测样品表面与微型力敏感元件之间的微弱原子间相互作用力，从而揭示物质的表面结构和性质。AFM的操作模式根据针尖与试样表面相互作用力的变化而有所不同，主要有三种：接触模式、非接触模式和敲击模式。在接触模式下...
原子力显微镜有三种基本的工作模式,分别是接触模式、非接触模式和敲击模式。 一、接触模式(Contact Mode) 接触模式是最早发展的AFM工作模式。在这种模式下,探针与样品表面保持接触,并通过探针与表面之间的相互作用力来获得表面形貌信息。当探针在样品表面扫描时,探针与表面之间的作用力会发生变...
原子力显微镜(AFM)是在STM的基础上发展起来的。所不同的是,AFM不是利用电子隧道效应,而是利用原子之间的范德华力作用来呈现样品的表面特性。 STM 的工作原理决定了它只能对导电样品的表面进行研究,而不能对绝缘体表面进行检测。为了弥补 STM...
AFM测试成像模式: 1、接触模式:针尖与样品表面距离小,利用原子间的斥力;可获得高解析度图像;样品变形,针尖受损;不适合于表面柔软的材料; 2、非接触模式:针尖距离样品5-20nm,利用原子间的吸引力,不损伤样品表面,可测试表面柔软样品;分辨率低,有误判现象; 3、轻敲模式:探针在Z轴维持固定频率振动,当振动到谷底时与...
1)接触模式 在静态模式中,静态探针偏转用做反馈信号。因为静态信号的测试与噪音和偏移成正比,低硬度探针用来增强外偏转信号。然而,因为探针非常接近于样品的表面,吸引力非常强导致探针切入样品表面。因此静态原子力显微镜几乎都用在总使用力为排斥力的情况。结果,这种技术经常被叫做“接触模式”。在接触模式中,扫描过程...
原子力显微镜/AFM的工作模式是以针尖与样品之间的作用力的形式来分类的。主要有以下几种: 1 接触模式 将一个对微弱力极敏感的微悬臂的一端固定,另一端有一微小的针尖,针尖与样品表面轻轻接触。由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力(10e-8～10e-6N),由于样品表面起伏不平而使探针带动微悬臂弯曲变...
原子力显微镜(AFM)有有三种基本成像模式,它们分别是接触式(Contact mode)、非接触式(non-contact mode)、轻敲式(tapping mode)。想了解更详细的信息,可以咨询Park原子力显微镜。Park NX-Wafer全自动AFM解决了缺陷成像和分析问题,提高缺陷检测生产率达1000%。超高精度和最小化探针针尖变量的亚埃级表面粗糙度测量,能够...