一、接触模式(Contact Mode) 接触模式是最早开发的AFM工作模式。在这种模式下,探针尖端与样品表面保持接触,并通过探针与样品之间的相互作用力来维持恒定的偏置力;当探针在样品表面扫描时,悬臂梁的弯曲或振动会被检测器记录下来,从而得到表面的形貌信息。 1. 工作原理:悬臂梁带有探针,当探针接触样品表面时,由于相互作用...
原子力显微镜(Atomic Force Microscope, AFM)是一种高分辨率的扫描探针显微术工具,它通过探测样品表面与一个尖锐探针之间的相互作用力来生成表面的三维图像。 原子力显微镜有三种基本的工作模式,分别是接触模式、非接触模式和敲击模式。 一、接触模式(Contact Mode) 接触模式是最早发展的AFM工...
1、接触模式：针尖与样品表面距离小，利用原子间的斥力；可获得高解析度图像；样品变形，针尖受损；不适合于表面柔软的材料；2、非接触模式：针尖距离样品5-20nm,利用原子间的吸引力，不损伤样品表面，可测试表面柔软样品；分辨率低，有误判现象；3、轻敲模式：探针在Z轴维持固定频率振动，当振动到谷底时与样品接触，...
为了弥补 STM 这一不足,1986年原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)被发明。AFM可以在真空、大气甚至液下操作,既可以检测导体、半导体表面,也可以检测绝缘体表面, 是研究纳米科学的重要工具。 AFM作为一个可以在纳米尺度对表面进行形貌和...
原子力显微镜(Atomic Force Microscope, AFM)是一种能够实现纳米级分辨率成像的技术,它不仅能够在空气、液体等多种环境下工作,而且可以提供样品表面的多种物理性质信息。AFM的多功能性使其成为材料科学、生命科学、化学和物理学等领域的研究利器。本文将探讨AFM的主要测试模式及其各自的适用场景。 1. 接触模式(Contact ...
图1展示了AFM的三种操作模式：接触模式、非接触模式和轻敲模式。接下来，我们将探讨原子力显微镜在集成电路制造工业中的三大应用领域。第一类应用：SCM（扫描电容显微术）在集成电路制造中，原子力显微镜的一种重要应用是SCM（扫描电容显微术）。这一技术能够以高分辨率扫描样品表面，并利用检测到的电容变化来分析材料的...
AFM测试成像模式: 1、接触模式:针尖与样品表面距离小,利用原子间的斥力;可获得高解析度图像;样品变形,针尖受损;不适合于表面柔软的材料; 2、非接触模式:针尖距离样品5-20nm,利用原子间的吸引力,不损伤样品表面,可测试表面柔软样品;分辨率低,有误判现象; 3、轻敲模式:探针在Z轴维持固定频率振动,当振动到谷底时与...
在静态模式中,静态探针偏转用做反馈信号。因为静态信号的测试与噪音和偏移成正比,低硬度探针用来增强外偏转信号。然而,因为探针非常接近于样品的表面,吸引力非常强导致探针切入样品表面。因此静态原子力显微镜几乎都用在总使用力为排斥力的情况。结果,这种技术经常被叫做“接触模式”。在接触模式中,扫描过程时保持探针偏转...
原子力显微镜(AFM)有有三种基本成像模式,它们分别是接触式(Contact mode)、非接触式(non-contact mode)、轻敲式(tapping mode)。想了解更详细的信息,可以咨询Park原子力显微镜。Park NX-Wafer全自动AFM解决了缺陷成像和分析问题,提高缺陷检测生产率达1000%。超高精度和最小化探针针尖变量的亚埃级表面粗糙度测量,能够...
高速原子力显微镜是专业为科研单位设计的经济型多功能AFM显微镜,它适合所有应用并给出磁力显微镜模式,电力显微镜模式,纳米光刻模式,弹性力显微镜模式等独特功能,在进口原子力显微镜品牌具有***低的原子力显微镜价格,是一款高性价比进口AFM显微镜。 高速原子力显微镜工作模式 ...