原子力显微镜(AFM)是一种强大的工具,能够提供多种表面分析功能。以下是一些主要的AFM应用: 表面形貌和粗糙度:AFM可以直接观察和测量样品的表面形貌,包括粗糙度,提供详细的表面结构信息。 厚度测量:通过AFM可以准确测量材料的厚度,这对于薄膜和多层结构的研究非常有用。 相图:AFM可以生成相图,显示不同材料相的分布和变化。
以下是AFM的几种主要应用场景:1️⃣ 表面形貌表征:AFM可以生成2D和3D图像,显示样品的表面粗糙度。2️⃣ 表面电势测量:KPFM模式可以测量样品的表面电势,通常在2到3个点上进行。3️⃣ 压电力显微镜:PFM模式可以扫描一个面上的多个点,测量回字形的PFM信号。4️⃣ Peakforce Tuning/C-AFM:这种模式可以...
首先,AFM可以实现更高的空间分辨率,可以达到原子级别的分辨率。其次,AFM可以在各种环境条件下进行观测,包括真空、液体和气体等。另外,AFM还可以对非导电样品进行观察,对于一些无法通过光学显微镜观察的样品具有独特的优势。
Peakforce Tuna模式导电原子力显微镜 这是Bruker 公司推出的最新一代导电原子力显微镜测量模式。在普通的导电原子力显微镜测量时,均采用的是接触模式,导电探针的导电层磨损非常快,从而导致结果不理想,重复性比较差,并且对于软的样品,附着力不强的样品,和垂直放置的柱状样品无法进行测量。而Peakforce Tuna由于采用了最新...
此外，AFM还具备力测量功能，通过测量悬臂的弯曲程度来精确确定针尖与样品之间的作用力大小。图1展示了AFM的三种操作模式：接触模式、非接触模式和轻敲模式。接下来，我们将探讨原子力显微镜在集成电路制造工业中的三大应用领域。第一类应用：SCM（扫描电容显微术）在集成电路制造中，原子力显微镜的一种重要应用是SCM（扫描...
原子力显微镜(AFM)是一种强大的工具,可以用于多种表面分析和表征。以下是AFM的几种应用场景: 常规AFM:用于表面形貌的表征,提供2D和3D图像,以及表面粗糙度的测量。 表面电势/KPFM:可以测量2到3个点的表面电势。 压电力显微镜/PFM:可以进行1个面扫描,以及几十个点的扫描,测量回字的PFM。
原子力显微镜（AFM）是一种高科技仪器，它利用原子间的相互作用力来观察和测量材料表面的微观结构。通过AFM，科学家们能够获得材料表面的三维立体图像，从而深入了解其物理和化学性质。原子力显微镜（AFM）通过探测待测样品表面与微型力敏感元件间的微弱原子间相互作用力，来揭示物质的表面结构与性质。这一技术能够在大气和...
原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM):是一种可以用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定,另一端有一微小针尖,使之与样品表面轻轻接触。由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力,会使悬臂发生微小的偏转。通过检测出偏转量并作用反馈控制其排...
AFM探针与样品的三种接触方式及其应用 根据原子力显微镜的传感器-探针及信号采集模式，AFM的应用可以进一步细分。其中，静电力显微镜（EFM）是一种重要的应用方式。它通过导电悬臂探测样品表面的电荷，从而获得样品表面纳米尺度的形貌和电荷分布信息。在EFM中，第一次扫描用于检测样品的基本形貌，而在第二次扫描前，悬臂会...