原子力显微镜(AFM)是一种强大的工具,能够提供多种表面分析功能。以下是一些主要的AFM应用: 表面形貌和粗糙度:AFM可以直接观察和测量样品的表面形貌,包括粗糙度,提供详细的表面结构信息。 厚度测量:通过AFM可以准确测量材料的厚度,这对于薄膜和多层结构的研究非常有用。 相图:AFM可以生成相图,显示不同材料相的分布和变化。
原子力显微镜(AFM)是一种强大的工具,可以用于多种表面分析和表征。以下是AFM的几种应用场景: 常规AFM:用于表面形貌的表征,提供2D和3D图像,以及表面粗糙度的测量。 表面电势/KPFM:可以测量2到3个点的表面电势。 压电力显微镜/PFM:可以进行1个面扫描,以及几十个点的扫描,测量回字的PFM。 Peakforce tun/C-AFM:...
在生物学和医学研究中,AFM可以用于细胞结构和表面形态的观察、生物分子的互作用研究、薄膜材料的表征等方面。 与传统光学显微镜相比,AFM具有许多优势。首先,AFM可以实现更高的空间分辨率,可以达到原子级别的分辨率。其次,AFM可以在各种环境条件下进行观测,包括真空、液体和气体等。另外,AFM还可以对非导电样品进行观察,对于...
AFM的其他应用有材料表面与薄膜硬度,微载荷划痕,摩擦力,粘弹性,弹性等力学性能研究,材料表面与薄膜电性能,磁性能,导热性能研究和一些比较前沿的如:纳米刻蚀,纳米操纵,单分子拉伸等。 图15 纳米操纵 参考文献: H. W. C., et al. Adv. Mater. 2000, 12, 1299. 参考书籍: 《原子力显微术及其应用》杨序纲,杨...
C-AFM，即导电原子力显微镜技术，是扫描探针显微镜的一种重要应用。它通过检测样品表面与探针之间的相互作用力，以纳米级分辨率获取样品表面的形貌信息。此外，C-AFM还具有导电性能，能够实时监测材料表面的电流分布和变化，为材料科学、半导体工艺等领域的研究提供了强大的技术支持。C-AFM技术在芯片失效分析中发挥着至关...
原子力显微镜(AFM)是一种强大的工具,广泛应用于材料科学和纳米技术领域。以下是AFM的几种主要应用场景:1️⃣ 表面形貌表征:AFM可以生成2D和3D图像,显示样品的表面粗糙度。2️⃣ 表面电势测量:KPFM模式可以测量样品的表面电势,通常在2到3个点上进行。3...
原子力显微镜（AFM）是一种高科技仪器，它利用原子间的相互作用力来观察和测量材料表面的微观结构。通过AFM，科学家们能够获得材料表面的三维立体图像，从而深入了解其物理和化学性质。原子力显微镜（AFM）通过探测待测样品表面与微型力敏感元件间的微弱原子间相互作用力，来揭示物质的表面结构与性质。这一技术能够在大气和...
原子力显微镜（AFM）是一种高精尖的显微技术，其独特之处在于能够揭示尺寸仅至6纳米的纳米粒子的细微表面特征。这一技术通过测量样品表面与超锐探针间的相互作用力来实现成像。在AFM系统中，探针与一个悬臂相连，而悬臂又与基于激光的传感器相接。借助专业的成像软件，这些传感器数据被精心转换为高分辨率的图像，供研究...
1 AFM在材料科学研究中的应用 AFM 是利用样品表面与探针之间力的相互作用这一物理现象,因此不受STM 等要求样品表面能够导电的限制,可对导体进行探测,对于不具有导电性的组织、生物材料和有机材料等绝缘体,AFM …