内容提示: Ser iesNo.319 January 2003 金属矿山 Ⅳ匮TAL M INE 总第 319期 2003年第 1期 原 子力 显微镜 测定力 一距离曲线 的原 理和 应用* 华杰 徐盛明 徐景明 朱国才 池汝安 时文中 (清华大学核能技术研究院) 摘要 介绍了用原子力显微镜测定力 一距离曲线的基本原理以及应用于力 一距离曲线的接触区...
原子力显微镜测定力-距离曲线的原理和应用 * 华杰徐盛明徐景明朱国才池汝安时文中 (清华大学核能技术研究院) 摘要介绍了用原子力显微镜测定力-距离曲线的基本原理以及应用于力-距离曲线的接触区和非接触 区分析的基本理论。讨论了用AFM力-距离曲线测定范德华力、双电层力及非DLVO力,并对AFM力-距离曲线 在不同领域...
华杰徐盛明徐景明朱国才池汝安时文中(清华大学核能技术研究院)摘要介绍了用原子力显微镜测定力-距离曲线的基本原理以及应用于力-距离曲线的接触区和非接触区分析的基本理论。讨论了用AFM力-距离曲线测定范德华力、双电层力及非DLVO力,并对AFM力-距离曲线在不同领域的应用进行了概括和展望。关键词原子力显微镜范德华...
图1中的1-4-2-3段为探针进针过程中的力-距离曲线,其中1-4段为针尖逐渐向样品靠近时,样品与针尖无接触时的力-距离曲线粘着引力,为一水平直线,此时针尖和样品之间的作用力几乎为零。但当针尖与样品之间的距离为十几纳米时,由于微悬臂受到样品表面的吸引力而朝下微小弯曲,在力-距离曲线上为一小段斜线(由于变化...
【摘要】介绍了用原子力显微镜测定力-距离曲线的基本原理以及应用于力-距离曲线的接触区和非接触区分析的基本理论.讨论了用AFM力-距离曲线测定范德华力、双电层力及非DLVO力,并对AFM力-距离曲线在不同领域的应用进行了概括和展望. 【总页数】6页(P25-30) 【作者】华杰;徐盛明;徐景明;朱国才;池汝安;时文中 ...
SFM除了形貌测量之外,还能测量力对探针-样品间距离的关系曲线Zt(Zs)。它几乎包含了所有关于样品和针尖间相互作用的必要信息。当微悬臂固定端被垂直接近,然后离开样品表面时,微悬臂和样品间产生了相对移动。而在这个过程中微悬臂自由端的探针也在接近、甚至压入样品表面
因此当检测柔嫩的样品时,AFM的敲击模式是最好的选择之一。一旦AFM开始对样品进行成像扫描,装置随即将有关数据输入系统,如表面粗糙度、平均高度、峰谷峰顶之间的最大距离等,用于物体表面分析。同时,AFM 还可以完成力的测量工作,测量悬臂的弯曲程度来确定针尖与样品之间的作用力大小。
一张静电力显微镜图像是由两次扫描组成:第一次扫描检测样品表面形貌,第二次扫描前悬臂被提升到距离样品一定高度以确保长程静电力是主导作用力。在该静电区域里,悬臂受到的吸引力和排斥力对应样品表面所带的正电荷和负电荷。最终使用者可以得到一张纳米尺度的区域电学性能以及形貌像。
用力-距离曲线标定原子力显微镜力测量系数的研究 维普资讯 http://www.cqvip.com
1.接触模式:针尖与样品表面距离较小,利用原子间的斥力。这种模式可以获得高解析度图像,但可能导致样品变形和针尖受损。接触模式不适合于表面柔软的材料。 2.非接触模式:针尖距离样品 5-20 纳米,利用原子间的吸引力。这种模式不损伤样品表面,可测试表面柔软样品,但分辨率较低,有误判现象。