以原子力显微镜最基本的“力-距离”曲线为例。如下图所示,探针逐渐靠近样品表面直至接触,施加一定的作用力后再缓慢提起。 在这个过程中,探针感受到的力和探针与样品表面间的距离标化曲线如下图。在逐步接近样品时,探针会受到一个吸引力,表现为曲线向负值方向有一个凹陷;然后逐步施加力至正值,停止;然后后撤探针,在...
内容提示: Ser iesNo.319 January 2003 金属矿山 Ⅳ匮TAL M INE 总第 319期 2003年第 1期 原 子力 显微镜 测定力 一距离曲线 的原 理和 应用* 华杰 徐盛明 徐景明 朱国才 池汝安 时文中 (清华大学核能技术研究院) 摘要 介绍了用原子力显微镜测定力 一距离曲线的基本原理以及应用于力 一距离曲线的接触区...
用于力一距离曲线的接触区和非接触 区分析的基本理论.讨论了用A力一距离曲线测定范德华力,双电层 力及非DLVO力,并对删力一距离曲 线在不同领域的应用进行了概括和展望. 关键词原子力显微镜范德华力双电层力非DLVO力 PrinciplesofForce-distanceCurveDeterminationbyAtomicForceMicrosc ...
【摘要】介绍了用原子力显微镜测定力-距离曲线的基本原理以及应用于力-距离曲线的接触区和非接触区分析的基本理论.讨论了用AFM力-距离曲线测定范德华力、双电层力及非DLVO力,并对AFM力-距离曲线在不同领域的应用进行了概括和展望. 【总页数】6页(P25-30) 【作者】华杰;徐盛明;徐景明;朱国才;池汝安;时文中 ...
单分子力谱法（Single Molecule Force Spectroscopy，SMFS）是AFM在分子间力研究中的一项重要应用。通过化学反应或物理吸附，将需要研究的分子对（如配体和受体）分别固定于AFM的针尖和基底表面。当针尖逼近基底并回退提拉过程中，记录微悬臂弯曲方向和弯曲程度的变化，转化为力值，从而得到力-距离曲线。这一曲线反映了...
论文导读:采用上海纳米爱建公司生产的AJ-Ⅱ型原子力显微镜。利用接触模式进行探针力-距离曲线的测量。粘着引力逐步增大。与样品表面直接接触的部分表现为粘着斥力。
摘要: 介绍了用原子力显微镜测定力-距离曲线的基本原理以及应用于力-距离曲线的接触区和非接触区分析的基本理论.讨论了用AFM力-距离曲线测定范德华力,双电层力及非DLVO力,并对AFM力-距离曲线在不同领域的应用进行了概括和展望.关键词: 原子力显微镜 范德华力 双电层力 非DLVO力 ...
用力-距离曲线标定原子力显微镜力测量系数的研究 维普资讯 http://www.cqvip.com
因此当检测柔嫩的样品时,AFM的敲击模式是最好的选择之一。一旦AFM开始对样品进行成像扫描,装置随即将有关数据输入系统,如表面粗糙度、平均高度、峰谷峰顶之间的最大距离等,用于物体表面分析。同时,AFM 还可以完成力的测量工作,测量悬臂的弯曲程度来确定针尖与样品之间的作用力大小。
一张静电力显微镜图像是由两次扫描组成:第一次扫描检测样品表面形貌,第二次扫描前悬臂被提升到距离样品一定高度以确保长程静电力是主导作用力。在该静电区域里,悬臂受到的吸引力和排斥力对应样品表面所带的正电荷和负电荷。最终使用者可以得到一张纳米尺度的区域电学性能以及形貌像。