压电力显微镜(PFM)即是在AFM基础上发展起来利用原子力显微镜导电探针检测样品的在外加激励电压下的电致形变量的显微镜。为了有效的提取出PFM信号,通常会对探针施加某一固定频率(远低于探针共振频率)的激励信号,通过锁相放大器对PFM信号进行提取。 在PFM测试中,常规仪器的激励电压一般为10V左右,配有高压模块的仪器可以...
原子力显微镜(图源于网络) 一、原理 AFM是用一端固定而另一端装有纳米级针尖的弹性微悬臂来检测样品表面形貌的。 纳米级针尖的弹性微悬臂 当样品在针尖下面扫描时,同距离密切相关的针尖-样品相互作用就会引起微悬臂的形变。 针尖-样品相互作用 微悬臂的形变是对样品-针尖相互作用的直接反映。通过检测微悬臂产生的...
AFM全称Atomic Force Microscope，即原子力显微镜，它是在扫描隧道显微镜之后发明的一种高分辨的新型显微仪器，具有原子级别的识别能力，可以在多种环境下（空气或者具有溶液的环境下）对各种材料和样品进行纳米级别的观察与探测，包括对表面形貌进行探测以及测量表面纳米级的粗糙度。目前，AFM（原子力显微镜）已广泛应用于...
原子力显微镜(AFM) AFM基本结构及成像原理 AFM工作时基本工作原理是将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定,另一端有一微小的针尖,针尖与样品表面轻轻接触,由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力,通过在扫描时控制这种力的恒定,带有针尖的微悬臂将对应于...
原子力显微镜就是利用原子之间微妙的关系来把原子样子给呈现出来。03 AFM成像模式 （1）接触式 接触式AFM是一个排斥性的模式，探针尖端和样品做柔软性的“实际接触”，当针尖轻轻扫过样品表面时，接触的力量引起悬臂弯曲，进而得到样品的表面图形。由于是接触式扫描，在接触样品时可能会是样品表面弯曲。经过多次扫描后...
原子力显微镜测试(AFM)▎ 适用领域 原子力显微镜，可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测，或者直接进行纳米操纵。广泛应用于半导体、纳米功能材料、生物、化工、食品、医药研究和科研院所各种纳米相关学科的研究实验等领域中。▎ 面向学科 材料、物理、化学 ▎ 样品要求...
原子力显微镜是一种扫描探针显微镜,它是IBM公司Gerd Binning和斯坦福大学的Quate在1986年研发的,主要通过小探针与表面之间相互作用力的大小来获得表面信息。在一般的AFM系统中,主要由三部分组成:力传感部分、位置检测部分、反馈系统,其中力传感部分是AFM的核心部分,目前商业化...
原子力显微镜AFM的关键组成部分是一个头上带有一个用来扫描样品表面的尖细探针的微观悬臂。这种悬臂大小在十至百微米，通常由硅或者氮化硅构成，其上有探针，探针之尖端的曲率半径在纳米量级。当在恒定高度扫描时，探头很有可能撞到表面的造成损伤。所以通常会通过反馈系统来维持。基本原理：利用微小探针“摸索”样品...
原子力显微镜(AFM)是一种强大的工具,能够提供多种表面分析功能。以下是一些主要的AFM应用: 表面形貌和粗糙度:AFM可以直接观察和测量样品的表面形貌,包括粗糙度,提供详细的表面结构信息。 厚度测量:通过AFM可以准确测量材料的厚度,这对于薄膜和多层结构的研究非常有用。
原子力是指原子之间的相互作用力,包括原子间的引力和斥力。其中,原子间的引力是由于原子之间的电荷相互作用而产生的。 原子间的引力是一种非常强大的力量,它可以使得原子之间紧密地结合在一起,形成分子和晶体。在固体中,原子之间的引力非常强大,因此固体具有很高的密度和硬度。而在液体和气体中,原子之间的引力比较弱,...