AFM全称Atomic Force Microscope，即原子力显微镜，它是在扫描隧道显微镜之后发明的一种高分辨的新型显微仪器，具有原子级别的识别能力，可以在多种环境下（空气或者具有溶液的环境下）对各种材料和样品进行纳米级别的观察与探测，包括对表面形貌进行探测以及测量表面纳米级的粗糙度。目前，AFM（原子力显微镜）已广泛应用于各
非接触式(Non-Contact mode)AFM中,探针以特定的频率在样品表面附近振动,探针和样品表面距离在5-20 nm之间,这一距离范围在范德华力曲线上位于非接触区域,属于很弱的长程力(范德华吸引力)。在非接触区域,探针和样品表面所受的总力很小,通常在10^-12 N左右。在...
所以,人们发明了原子力显微镜(AFM)弥补这方面的不足。 1986 年, IBM公司的G.Binning和斯坦福大学的C.F.Quate及C.Gerber 合作发明的原子力显微镜(Atomic ForceMicroscope, AFM)[1]更是突出地显现了显微观测技术作为人类视觉感官功能的延伸与增强的重要性,它是在扫描隧道显微镜基础上为观察非导电物质经改进而发展起来...
原子力显微镜 (AFM) 是一种高分辨率形式的扫描探针显微镜,也称为扫描力显微镜 (SFM)。该仪器使用末端带有尖锐尖端的悬臂扫描样品表面. 当探针扫描样品表面时,针尖和样品之间的吸引力或排斥力通常以范德华力的形…
原子力显微镜(atomic force microscope,AFM),一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定,另...
在原子力显微镜AFM中，微悬臂的一端固定，另一端带有一微小针尖，微悬臂的长度通常在几个微米到几十个微米之间，针尖的直径则通常在几个纳米到几十个纳米之间。AFM工作时，针尖与样品表面轻轻接触，针尖和样品之间的相互作用力会使微悬臂发生形变或振动。这个相互作用力可以是范德华力、静电力、磁力等。通过检测微...
AFM全称Atomic Force Microscope,即原子力显微镜,它是在扫描隧道显微镜之后发明的一种高分辨的新型显微仪器,具有原子级别的识别能力,可以在多种环境下(空气或者具有溶液的环境下)对各种材料和样品进行纳米级别的观察与探测,包括对表面形貌进行探测以及测量表面纳米级的粗糙度。
原子力显微镜（AFM）进行表面分析时，其核心原理在于利用微弱力敏感元件来感知和测量样品与探针之间的相互作用力。这一元件通常由氮化硅片或硅片制成，具有极高的弹性敏感度。在微悬臂的顶端，则配备了一个微小的针尖，通常由硅或碳纳米管等材料精制而成。通过压电陶瓷三维扫描器的精确驱动，这个针尖能够逐点扫描待测...
AFM 主要由扫描隧道显微镜（STM）发展而来，其基本原理相似。AFM 通过一个微小的针尖与样品表面相互作用，以实现高分辨率的表面成像。针尖与样品之间的相互作用力可以是吸引力或斥力。根据针尖与样品表面之间的距离和作用力的性质，AFM 主要有三种成像模式：接触模式、非接触模式和轻敲模式。1.接触模式：针尖与样品表面...
AFM 进行表面分析的基本原理如下：AFM 中有一由氮化硅片或硅片制成的对微弱力极敏感的弹性臂，微悬臂顶端有一硅或碳纳米管等材料制成的微小针尖，控制这一针尖，使其扫描待测样品的表面，这一过程是由压电陶瓷三维扫描器驱动的。当针尖与样品表面原子做相对运动时，作用在样品与针尖之间的力会使微悬臂发生一定量...