原子力显微镜 (AFM) 是一种高分辨率形式的扫描探针显微镜,也称为扫描力显微镜 (SFM)。该仪器使用末端带有尖锐尖端的悬臂扫描样品表面. 当探针扫描样品表面时,针尖和样品之间的吸引力或排斥力通常以范德华力的形式存在,但也可以是其他一些形式,例如静电和疏水性/亲水性,导致悬臂偏转, 偏转由激光测量从悬臂反射到光电二极管中。随着其中一个光电二
AFM全称Atomic Force Microscope，即原子力显微镜，它是在扫描隧道显微镜之后发明的一种高分辨的新型显微仪器，具有原子级别的识别能力，可以在多种环境下（空气或者具有溶液的环境下）对各种材料和样品进行纳米级别的观察与探测，包括对表面形貌进行探测以及测量表面纳米级的粗糙度。目前，AFM（原子力显微镜）已广泛应用于...
是一种用于研究表面形貌和表面物理特性的高分辨率扫描显微镜。它利用原子之间的相互作用力来探测样品表面的形貌和性质，具有极高的分辨率和灵敏度。原子力显微镜的基本原理是通过扫描探针与样品表面之间的相互作用力来获得表面形貌信息。当探针与样品表面接触时，会受到表面形貌起伏的影响，从而改变探针的振动频率和振幅。通过...
原子力显微镜（AFM）的方法类似于扫描隧道显微镜，它使用锋利的针尖对样品的表面进行光栅扫描，产生一个反馈回路，对产生样品表面图像所需的参数进行微调。AFM与扫描隧道显微镜不同，因为它不需要导电的样品，而不是利用隧道的量子力学效应，AFM利用原子力来绘制样品和尖端之间的相互作用。各种AFM方法几乎可以实现任何可测量...
根据针尖与样品之间的作用力,原子力显微镜的工作模式主要分为3类,如下图所示,分别为接触模式(Contact mode),非接触模式(Non-Contact mode)和轻敲模式(Tapping mode)。 图3 AFM三种操作模式的(a)接触模式;(b)非接触模式;(c)轻敲模式。 接触模式 接触模式(Contact m...
高分辨率原子力显微镜,适用于极具挑战性的研究 随着原子力显微镜成为尖端材料研究的主要技术进入其第四个十年,使用其高分辨率数据不断推动研究发现,所涵盖的学科和应用领域数不胜数。自20世纪80年代引入首个商用系统以来,布鲁克一直在不断扩展AFM功能。随着技术的成熟,AFM使科学家有机会表征更为复杂的样品的特性,而不...
原子力显微镜(图源于网络) 一、原理 AFM是用一端固定而另一端装有纳米级针尖的弹性微悬臂来检测样品表面形貌的。 纳米级针尖的弹性微悬臂 当样品在针尖下面扫描时,同距离密切相关的针尖-样品相互作用就会引起微悬臂的形变。 针尖-样品相互作用 微悬臂的形变是对样品-针尖相互作用的直接反映。通过检测微悬臂产生的...
原子力显微镜(Atomic Force Microscopy,AFM)是一种具有原子级别高分辨率的新型表面分析仪器,它不但能像扫描隧道显微镜(STM)那样观察导体和半导体材料的表面现象,而且能用来观察诸如玻璃、陶瓷等非导体表面的微观结构,还可以在气体、水和油中无损伤地直接观察物体,大大地拓展了显微技术在生命科学、物理、化学、材料科学和表...
用于自动化纳米尺寸计量和表征的原子力显微镜 Dimension ®系列原子力显微镜 (AFM) 长期以来在工业生产过程中以其高效、高能而享有盛誉。Dimension HPI 和 PRO 系统专为大批量、生产过程的质量检测而设计,可实现多数 AFM 模式的自动化测量,系统具有易用性和极低的测试成本。提升了质量控制、提高了生产的质量保证和...