主要有:俄歇电子能谱分析(AES)、X射线光电子能谱分析(XPS) 、紫外光电子能谱(UPS)。俄歇电子能谱法(AES)AES可以用于研究固体表面的能带结构、表面物理化学性质的变化(如表面吸附、脱附以及表面化学反应);用于材料组分的确定、纯度的检测、材料尤其是薄膜材料的生长等。 俄歇电子能谱(Auger Electron Spectrometry,简...
1.X射线光电子能谱(XPS)2.俄歇电子能谱(AES)X射线光电子能谱 X射线光电子能谱（XPS，X-rayPhotoelectronSpectroscopy）是一种基于光电效应的电子能谱，它是利用X射线光子激发出物质表面原子的内层电子，通过对这些电子进行能量分析而获得表面成分信息的一种能谱。XPS=ESCA 这种谱仪早期取名为化学分析电子能谱（ESCA...
1.X射线光电子能谱(XPS)2.俄歇电子能谱(AES)X射线光电子能谱 X射线光电子能谱（XPS，X-rayPhotoelectronSpectroscopy）是一种基于光电效应的电子能谱，它是利用X射线光子激发出物质表面原子的内层电子，通过对这些电子进行能量分析而获得表面成分信息的一种能谱。XPS=ESCA 这种谱仪早期取名为化学分析电子能谱（ESCA...
NIST XPS Database 02 - AES (Auger electron spectroscopy) 2.1 原理 AES是用具有一定能量的电子束(或X射线)轰击样品表面激发俄歇效应,与XPS不同的是,俄歇电子并不是直接被电子束打出的电子,而是将样品内原子的内层电子击出,使原子处于高能的激发态。外层电子跃迁到内层的电子空位,同时以两种方式释放能量:发射特...
X射线光电能谱(XPS)和俄歇电子能谱(AES) 一、概念 1。 X光电子能谱法(XPS)是一种表面分析方法,提供的是样品表面的元素含量与形态,而不是样品整体的成分。其信息深度约为3-5nm。如果利用离子作为剥离手段,利用XPS作为分析方法,则可以实现对样品的深度分析。固体样品中除氢、氦之外的所有元素都可以进行XPS分析。
⑤无机物的整体分析:EDX;无机物的薄膜(多膜层)分析:AES、XPS、TOF-SIMS ⑥样品表面损伤:EDX和AES破坏较重,XPS较弱,TOF-SIMS接近无损 五、样品的注意事项 另外简单归纳了几点样品的注意事项,实际的样品要求还需要根据测试方法和设备来考虑。 1、表面分析的样品都要求表面干净,①不能触摸样品表面或对样品表面吹气;...
--AES与XPS分析方法 俄歇电子能谱•俄歇电子是1925年法国科学家P.Auger发现，他用X射线照射威尔逊云雾时，发现有两个电子径迹，一个径迹是由光电子射出产生，另一个径迹是由后来人们称为俄歇电子的发射产生。•二次电子的一种，信号微弱•俄歇电子能谱AES：Augerelectronspectroscopy 电子束与样品作用后产生的粒子...
XPS-AES联用技术对Pt-Co,Cu-Au和Cu-Ag合金薄膜的定量表征方法研究
XPS-AES区别X射线光电子能谱分析X射线光电子能谱分析(X-rayphotoelectronspectroscopyanalysis) 1887年,HeinrichRudolfHertz发现了光电效应。二十年后的1907年,P.D.Innes用伦琴管、亥姆霍兹线圈、磁场半球(电子能量分析仪)和照像平版做实验来记录宽带发射电子和速盘包朔眩驾韩锭市棍貉玄筋芹踌剐廓会檄架霍竭以勃淹翔...
XPSAES X射线光电子能谱分析 X射线光电子能谱分析(X-rayphotoelectronspectroscopyanalysis) 1887年,HeinrichRudolfHertz发现了光电效应。二十年后的1907年, P.D.Innes用伦琴管、亥姆霍兹线圈、磁场半球(电子能量分析仪)和照像 平版做实验来记录宽带发射电子和速度的函数关系。待测物受X光照射后 内部电子吸收光能而脱离...