XPS depth analysis of CuO by electrospray droplet impact[J].Surface and Interface Analysis: SIA: An International Journal Devoted to the Development and Application of Techniques for the Analysis of Surfaces, Interfaces and Thin Films 2012,8(8).Y. Sakai, S. Ninomiya, K. Hiraoka. XPS depth ...
要加上或减去此差值.*.dat文件是用写字板打开,倒入origina软件.建议每次做实验之前,要先弄清楚实验的目的和可能的结果. 可能要查XPS手册,其上有每一种元素所可能产生的峰(峰位置),一般作XPS的,都会有这本书C. D. Wagner, W. M. Riggs, L. E. Davis, et al., Handbook of X-ray photoelectron spectr...
自旋-轨道偶合引起的能级分裂,谱线分裂成双线(强度比),特别对于微量元素。 利用俄歇化学位移标识谱图鉴定物质:如:Cu与CuO的化学位移为0.4eV,Ag与Ag2SO4化学位移为0.1eV而对它们来说俄歇化学位移相当大 XPS的应用 由于元素的结合能是唯一标识的,因而我们可以用 xps 作: (1)组成样品的元素的标定 (2)各元素含量的...
自旋-轨道偶合引起的能级分裂,谱线分裂成双线(强度比),特别对于微量元素。 利用俄歇化学位移标识谱图鉴定物质:如:Cu与CuO的化学位移为0.4eV,Ag与Ag2SO4化学位移为0.1eV而对它们来说俄歇化学位移相当大。 XPS的应用 由于元素的结合能是唯一标识的,因而我们...
XPS是一种对固体表面进行定性、定量分析和结构鉴定的实用性很强的表面分析方法。 现今世界上关于XPS的刊物主要有: Journal of Electron Spectroscopy. Related Phenomena. 企业包括:PHI公司,VG公司,Karatos 公司 发展方向:单色化,小面积,成像XPS 二、XPS功能与特点 ...
E(k): 电子的动能 (kinetic energy of the electron) W: 仪器的功函数(spectrometer work function) 通过测量接收到的电子动能,就可以计算出元素的结合能。 铝靶:hv=1486.6 eV 镁靶:hv=1253.6 eV 3 应用 由于元素的结合能是唯一标识的,因而我们可以用xps作: ...
利用俄歇化学位移标识谱图鉴定物质:如:Cu与CuO的化学位移为0.4eV,Ag与Ag2SO4化学位移为0.1eV而对它们来说俄歇化学位移相当大 XPS的应用 由于元素的结合能是唯一标识的,因而我们可以用 xps 作: (1)组成样品的元素的标定 (2)各元素含量的计算 (3)元素的侧向分布 ...
利用俄歇化学位移标识谱图鉴定物质:如:Cu与CuO的化学位移为0.4eV,Ag与Ag2SO4化学位移为0.1eV而对它们来说俄歇化学位移相当大XPS的应用由于元素的结合能是唯一标识的,因而我们可以用 xps 作:(1)组成样品的元素的标定(2)各元素含量的计算(3)元素的侧向分布(4)化学态标定(5)测量超薄(小于5纳米)样品的厚度XPS ...
利用俄歇化学位移标识谱图鉴定物质:如:Cu与CuO的化学位移为0.4eV,Ag与Ag2SO4化学位移为0.1eV而对它们来说俄歇化学位移相当大 应用 由于元素的结合能是唯一标识的,因而我们可以用 xps 作: (1)组成样品的元素的标定 (2)各元素含量的计算 (3)元素的侧向分布 ...
答:你是做CuO的XPS吧?还有其他的氧化物吧?XPS主要是通过元素价态变化来说明问题的,还有峰形的变化,出峰位移。这些在表征相关书籍中都有介绍,还有相关文献中也有分析过程。基本上制样有两种,一是粉未直接粘在导电Cu胶带,很薄的一层就可以,一种是压片制成片状。就看你去做的时候他们的要求了。做的时候收集谱先...