XPS depth analysis of CuO by electrospray droplet impact[J].Surface and Interface Analysis: SIA: An International Journal Devoted to the Development and Application of Techniques for the Analysis of Surfaces, Interfaces and Thin Films 2012,8(8).Y. Sakai, S. Ninomiya, K. Hiraoka. XPS depth ...
利用俄歇化学位移标识谱图鉴定物质:如:Cu与CuO的化学位移为0.4eV,Ag与Ag2SO4化学位移为0.1eV而对它们来说俄歇化学位移相当大XPS的应用由于元素的结合能是唯一标识的,因而我们可以用 xps 作:(1)组成样品的元素的标定(2)各元素含量的计算(3)元素的侧向分布(4)化学态标定(5)测量超薄(小于5纳米)样品的厚度XPS 实验...
自旋-轨道偶合引起的能级分裂,谱线分裂成双线(强度比),特别对于微量元素。 利用俄歇化学位移标识谱图鉴定物质:如:Cu与CuO的化学位移为0.4eV,Ag与Ag2SO4化学位移为0.1eV而对它们来说俄歇化学位移相当大。 XPS的应用 由于元素的结合能是唯一标识的,因而我们...
案例八:已有研究表明,CuO/TiO2中Cu的价态极大程度地影响其还原能力,且CuOx提高TiO2光催化活性的机理研究并不透彻。 M Lei, N Wang, L Zhu,等. Photocatalytic reductive degradation of polybrominated diphenyl ethers on CuO/TiO2 nanocomposites: A mechanism based on the switching of photocatalytic reduction pot...
利用俄歇化学位移标识谱图鉴定物质:如:Cu与CuO的化学位移为0.4eV,Ag与Ag2SO4化学位移为0.1eV而对它们来说俄歇化学位移相当大 XPS的应用 由于元素的结合能是唯一标识的,因而我们可以用 xps 作: (1)组成样品的元素的标定 (2)各元素含量的计算 (3)元素的侧向分布 ...
E(k): 电子的动能 (kinetic energy of the electron) W: 仪器的功函数(spectrometer work function) 通过测量接收到的电子动能,就可以计算出元素的结合能。 铝靶:hv=1486.6 eV 镁靶:hv=1253.6 eV 3 应用 由于元素的结合能是唯一标识的,因而我们可以用xps作: ...
答:你是做CuO的XPS吧?还有其他的氧化物吧?XPS主要是通过元素价态变化来说明问题的,还有峰形的变化,出峰位移。这些在表征相关书籍中都有介绍,还有相关文献中也有分析过程。基本上制样有两种,一是粉未直接粘在导电Cu胶带,很薄的一层就可以,一种是压片制成片状。就看你去做的时候他们的要求了。做的时候收集谱先...
利用俄歇化学位移标识谱图鉴定物质:如:Cu 与 CuO 的化学位移为 0.4eV,Ag 与 Ag2SO4 化学位移为 0.1eV 而对它们来说俄歇化学位移相当大。 以上仅为铄思百检测对网上资料的整理,故此分享给大家,希望可以帮助大家对测试更了解,如有测试需求,可以和铄思百检测联系,我们会给与您最准确的数据和最好的服务体验,惟祝...
氧元素是自然界中广泛存在的化学元素之一,它在许多化学反应以及生命活动中都扮演着重要的角色。在研究氧元素的性质时,人们通常会采用X射线光电子能谱(XPS)这种表面分析技术进行研究。然而,对于氧元素的XPS谱线,人们却发现出现了三个峰,这一现象一度让人感到困惑。那么,为什么氧元素的XPS会出现三个峰呢?下面我们进行...
XPS是一种对固体表面进行定性、定量分析和结构鉴定的实用性很强的表面分析方法。 现今世界上关于XPS的刊物主要有: Journal of Electron Spectroscopy. Related Phenomena. 企业包括:PHI公司,VG公司,Karatos 公司 发展方向:单色化,小面积,成像XPS 二、XPS功能与特点 ...