牛津仪器X射线能谱仪(EDS), X-MaxN 的晶体尺寸从适合于微米分析的20 mm2到纳米材料分析专用1大50 mm2的共四种可选。尤其是150 mm... 总览 探测器晶体尺寸可选,分别为150 mm2,80 mm2,50 mm2,20 mm2 无论晶体面积或大或小,X-MaxN 的分辨率始终如一的好——并符合标准ISO15632:2012 无论晶体尺寸如何,...
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探测器的能量分辨率和低能探测性能不随探测晶体尺寸的变化而变化,这是因为外置FET设计。如果探测器的位置不变,计数率的增加与探测器的面积成正比。所有尺寸的探测器晶体都具有相同优秀的分辨率。 (图为牛津X-Maxn能谱仪不同晶体所测结果) 为什么说晶体尺寸越大越好呢。使用大面积探测器意味着提高图像的质量和分析的...
【技术特点】-- X-MaxN 80T 透射电镜TEM专用硅漂移探头、电制冷能谱仪 TEM专用的X-MaxN系列硅漂移探头采用了全新的感应晶片、电子元件以及创新的机械设计,真正达到了“下一代”硅漂移探头高性能的表现。 透射X-MaxN系列探头采用了低噪音探头,即使在极高的计数率下也可以保证很好的分辨率及X射线的探测敏感性。
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