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牛津仪器X射线能谱仪(EDS), 仪器简介: X-MaxN 的晶体尺寸从适合于微米分析的20 mm2到纳米材料分析专用150 mm2的共四种可选。尤其是... 总览 探测器晶体尺寸可选,分别为150 mm2,80 mm2,50 mm2,20 mm2 无论晶体面积或大或小,X-MaxN 的分辨率始终如一的好——并符合标准ISO15632:2012 无论晶体尺寸如何,...
身份验证: 注册资本:500万元 企业类型: 公司地区:中国 主营产品:直读光谱、台阶仪、光学轮廓仪、激光划片机,光谱仪 进入店铺 产品分类 粗糙度仪 测高仪 其他光学仪器产品详情 品牌/型号:牛津/X-Max超大面积电制冷能谱仪(X-Max) 品牌:牛津 加工定制:是 型号:X-Max超大面积电制冷能谱仪(X-Max) 详细信...
· 对低能量x射线的灵敏度可提高8倍 · 可在400,000cps的计数率下进行定量分析 在原位实验中,可在1000°C的温度下采集谱图 旗舰款SDD传感器Ultim Max TLE,搭载于透射电子显微镜(TEM),经过设计优化,提高了小束斑下的计数率,可表征原子尺度的元素信息。
查看同类X射线能谱仪(EDS)仪器 型号品牌PIPES指数 仪器描述 牛津仪器EDSX-Max TEM用于测定Power Semiconductors,符合行业标准Oxford Instruments。适用Power Semiconductors项目。 失效分析 X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计,可提供卓越的立体角和分析性能 ...
X-MaxN 大面积SDD电制冷能谱仪的技术特点和独有技术特征,包含仪器所使用的技术、独特性、技术特征等信息,牛津仪器X射线能谱仪(EDS),X-MaxN 的晶体尺寸从适合于微米分析的20 mm2到纳米材料分析专用1大50 mm2的共四种可选。尤其是150 mm2为当今晶体面积的探测器,分析速度
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牛津仪器国产X射线能谱仪(EDS)参考成交价格: 1~500000元[人民币] 询价申请演示技术特点 【技术特点】-- 牛津仪器X-Max TEM硅漂移探测器 X-MaxN 80T 用于TEM 的X-Max N系列SDD采用新型晶体、电子电路和封装技术,是一款真正的“新一代”SDD X-Max N TEM探测器采用新的低噪声探测器设计,具有出色的分辨率和...
【技术特点】-- X-MaxN 80T 透射电镜TEM专用硅漂移探头、电制冷能谱仪 TEM专用的X-MaxN系列硅漂移探头采用了全新的感应晶片、电子元件以及创新的机械设计,真正达到了“下一代”硅漂移探头高性能的表现。 透射X-MaxN系列探头采用了低噪音探头,即使在极高的计数率下也可以保证很好的分辨率及X射线的探测敏感性。