牛津仪器X射线能谱仪(EDS), X-MaxN 的晶体尺寸从适合于微米分析的20 mm2到纳米材料分析专用1大50 mm2的共四种可选。尤其是150 mm... 总览 探测器晶体尺寸可选,分别为150 mm2,80 mm2,50 mm2,20 mm2 无论晶体面积或大或小,X-MaxN 的分辨率始终如一的好——并符合标准ISO15632:2012 无论晶体尺寸如何,...
牛津仪器X-Max电制冷能谱仪的技术特点和独有技术特征,包含仪器所使用的技术、独特性、技术特征等信息,牛津仪器X射线能谱仪(EDS),仪器简介: X-MaxN 的晶体尺寸从适合于微米分析的20 mm2到纳米材料分析专用150 mm2的共四种可选。尤其是150 mm2为当今晶体面积zei大的探测器
•无论晶体面积或大或小,X-MaxN的分辨率始终如一的好——并符合标准ISO15632:2012 •无论晶体尺寸如何,能谱仪外管尺寸及在电镜中的位置完全一致,确保相同条件下,计数率的增加只源于晶体尺寸的增加 •强大的低能端分析,所有晶体面积的能谱仪均保证由Be开始 •与上一代X-Max同,无论SEM或FIB均使用同一界...
探测器的能量分辨率和低能探测性能不随探测晶体尺寸的变化而变化,这是因为外置FET设计。如果探测器的位置不变,计数率的增加与探测器的面积成正比。所有尺寸的探测器晶体都具有相同优秀的分辨率。 (图为牛津X-Maxn能谱仪不同晶体所测结果) 为什么说晶体尺寸越大越好呢。使用大面积探测器意味着提高图像的质量和分析的...
X-MaxN 的晶体面积有20mm2, 50mm2, 80mm2 and 150mm2 –其中150mm2 是当今晶体面积zei大的能谱仪 因其独特地外置型FET场效应管设计,X-MaxN 的分辨率完全不受晶体面积变化的影响始终如一,且保证全部具有优异的低能端检测性能 探测器外管尺寸相同,意味着相同条件下,计数率仅与晶体面积有关 保证所有晶体面积的...
因其独特地外置型FET场效应管设计,X-MaxN 的分辨率完全不受晶体面积变化的影响始终如一,且保证全部具有优异的低能端检测性能 探测器外管尺寸相同,意味着相同条件下,计数率仅与晶体面积有关 保证所有晶体面积的能谱仪均具有优异的能量分辨率 EDS牛津仪器硅漂移探测器 可检测Can,X-MaxN EDS牛津仪器硅漂移探测器 可...
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