SIMS和TOF-SIMS是一个意思,飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS),也叫静态二次离子质谱,是飞行时间和二次离子质谱SIMS结合的一种新的表面分析技术。TOF-SIMS具有高分辨、高灵敏度、精确质量测定等性能,是目前高技术领域广泛使用的分析技术。 今天铄思百检测小编顺便带大家详细了解一下TOF-SIMS吧。 飞行时间二次离子质谱...
TOF-SIMS通常用于生物医学、材料科学、环境科学等领域的分析，可以用于生物分子、纳米材料、环境污染物等的研究。总的来说，D-SIMS和TOF-SIMS的主要区别在于离子源的离子束密度不同，D-SIMS的离子束密度较高，适用于表面元素的定量分析，TOF-SIMS的离子束密度较低，适用于表面元素和化合物的定量和结构分...
SIMS在原则上是一种破坏性技术,但是对于一次标准ToF-SIMS分析,可以通过施加非常低束流密度的一次离子束,实现整个分析过程中所破坏的表面层不到整个表面单层的百分之一。构成质谱的那些源自被轰击的样品表面区域的二次离子(SI)是可以忽略不计的,因此,ToF-SIMS表面质谱分析是一种静态SIMS分析 / 准无损分析,可用于分析...
有机硅定性识别-XPS和TOF-SIMS谱峰特点。我们探究号科技会一直更新包括(XPS/ TOF-SIMS/ FIB/TEM/SEM-EDS/AES/AFM/ FTIR/ GC-MS/ etc)原理、应用、数据分析和材料分析、失效分析相关案例的免费技术纯干货。感谢每一位粉丝的关注和积极反馈!想尽快掌握相关专业知识的小伙伴
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3、收集经过质谱分离的二次离子,可以得知样品表面和本体的元素组成和分布。 答:D-SIMS采用DC模式的离子源,深度剖析时分析和溅射同时进行,对表面是连续深度作用的过程,成分从表面到深度的信息是连续…
飞行时间二次离子质谱技术(ToF-SIMS)成像为探索有机物、生物有机物和生物系统提供了一种强大的、无需标记的方法。这项技术能够达到非常高的空间分辨率,同时也能产生大量关于表面的化学和分子组成信息。然而,这些信息本质上是复杂的,使得...
TOF-SIMS ▼ 基本原理: 飞行时间-二次离子质谱仪(TOF-SIMS),是一种非常灵敏的表面分析技术。它利用一次离子激发样品表面微量的二次离子,根据二次离子飞行到探测器的时间不同来测定离子质量。由于TOF-SIMS中离子飞行时间只依赖于它们的质...
自组装纳米相粒子(SNAP)涂料的应用研究,采用XRD(X 射线衍射)、TOF-SIMS(飞行时间二次离子质谱)和AFM(原子力显微镜),研究自组装纳米相粒子(SNAP)涂料的化学结构与形态,产品资讯,建材应用,市场评论,技术中心,涂料油漆,成品材料,建筑基材,原料动态,行业资讯,建筑材