飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS），也叫静态二次离子质谱，是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。TOF-SIMS具有高分辨、高灵敏度、精确质量测定等性能，是目前高技术领域广泛使用的分析技术。此外，TOF-SIMS是非常灵敏的表面分析手段。其凭借质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能，广泛应用于医学...
静态SIMS中入射离子通量较低,从而降低了分析深度,使该技术更具表面特异性。它还能减少碎片,有利于分析分子种类。 由于不同的仪器可以采用不同的操作模式,下面将围绕所使用的仪器类型展开。 4飞行时间二次离子质谱仪ToF-SIMS 现代ToF-SIMS仪器一般使用液态金属离子...
检测类型 TOF-SIMS 质谱测试溅射厚度 小于1nm 块体样品尺寸 1cmx1cmX8mm之内 粉末样品 至少10mg 测试面 务必在样品非测试面上标记“×” 主要用途 成分定性鉴定、对材料表面、界面的元素、分子结构进行分析 分析深度 表面1-3nm 检出限 ppm级别 其他要求 请联系技术经理确认 售后保障 免费复测 服务...
TOF-SIMS在线技术支持:康派斯检测 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)技术,作为目前广受欢迎的表面分析技术之一,其在材料分析领域的独特优势已经得到了全球科研人员的广泛认可。此技术不仅具备出色的质量分辨本领和高空间分辨能力,更因其广泛的适用性,在有机、无机、生物、医学、电子、地质/考古、环境等多个领域都展现出...
二次离子质谱大科普！TOF-SIMS实例分析 二次离子质谱（Secondary Ion Mass Spectrometry，SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术，通过用一次离子激发样品表面，打出的二次离子因质量不同而飞行到探测器的时间不同，实现不同元素、同位素及分子结构的探测。一、技术简介 静态二次离子质谱（TOF-SIMS），即飞行时间二次...
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术,主要用于材料表面以下纳米级别的浅表层分析,能够检测元素周期表中所有元素及其同位素,检测限在ppm级别(特殊情况可至ppb)。可以提供样品表面、薄层、界面的详细元素和分子信息,并能提供全面的...
TOF-SIMS（Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry），即飞行时间二次离子质谱，是二次离子质谱（SIMS）技术的一个分类。它结合了二次离子质谱和飞行时间分析技术，具有高分辨率、高灵敏度、精确质量测定等特点，是目前高技术领域广泛使用的分析技术，可以分析元素、同位素、分子等信息。按照扫描方式，SIMS可以分...
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