TOF-SIMS TOF-DR软件-16-如何回溯特定深度(膜层)的质谱图或MAPPING图。我们探究号科技会一直更新包括(XPS/ TOF-SIMS/ FIB/TEM/SEM-EDS/AES/AFM/ FTIR/ GC-MS/ etc)原理、应用、数据分析和材料分析、失效分析相关案例的免费技术纯干货。感谢每一位粉丝的关注和积极反馈!
仁研TOF-SIMS谱图测试控制软件是由南京仁研信息技术有限公司著作的软件著作,该软件著作登记号为:2023SR0524970,属于分类,想要查询更多关于仁研TOF-SIMS谱图测试控制软件著作的著作权信息就到天眼查官网!
链接:https://pan.baidu.com/s/1FvIQ0HTatLyK27SR9BAOmQ提取码: t7st 复制这段内容后打开百度网盘...
中国制造网生产厂家那诺中国有限公司提供TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪图片,和TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪高清图片、细节图片。
中国制造网生产厂家那诺中国有限公司提供高分辨率飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS图片,和高分辨率飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS高清图片、细节图片。
高分辨率 飞行时间二次离子质谱仪 TOF-SIMS,Kore SurfaceSeer S在TOF-SIMS (飞行时间二次离子质谱仪)系列中,是一款高性价比且经久耐用的产品。它是研究样品表面化学成分的理想选择,适用于研发和工业质量控制应用。飞行时间二次离子质谱(Time of Flight Se
XPS测试-分析-文章中常见的错误-10-图谱需要平滑操作么 我们探究号科技会一直更新包括(XPS/ TOF-SIMS/ FIB/TEM/SEM-EDS/AES/AFM/ FTIR/ GC-MS/ etc)原理、应用、数据分析和材料分析、失 - 探究号科技于20240925发布在抖音,已经收获了965个喜欢,来抖音,记录美好生活!
飞行时间二次离子质谱TOF-SIMS使用飞行时间质谱,质量数范围宽,质量分辨率高,且测量速度快(瞬间得到全谱)。离子枪仅需要一次脉冲溅射,即可得到全谱,对表面几乎无破坏作用。因脉冲模式分析,且电流小,所以产生的二次离子比率相对少,灵敏度相比动态SIMS弱,但成像和表面分析能力强,是典型的Stactic SIMS 静态SIMS。
MultiPak 软件实操 Ta掺杂碳C膜层图谱分析-C1s拟合。我们探究号科技会一直更新包括(XPS/ TOF-SIMS/ FIB/TEM/SEM-EDS/AES/AFM/ FTIR/ GC-MS/ etc)原理、应用、数据分析和材料分析 - 探究号科技于20230731发布在抖音,已经收获了935个喜欢,来抖音,记录美好生活!
AES软件实操-1-MultiPak-俄歇图谱定性和半定量分析。我们探究号科技会一直更新包括(XPS/ TOF-SIMS/ FIB/TEM/SEM-EDS/AES/AFM/ FTIR/ GC-MS/ etc)原理、应用、数据分析和材料分析、 - 探究号科技于20231009发布在抖音,已经收获了964个喜欢,来抖音,记录美好生活!