飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS），也叫静态二次离子质谱，是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。TOF-SIMS具有高分辨、高灵敏度、精确质量测定等性能，是目前高技术领域广泛使用的分析技术。此外，TOF-SIMS是非常灵敏的表面分析手段。其凭借质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能，广泛应用于医学...
SIMS仪器由以下基本元素组成: 1产生初级离子的离子源,2离子镜筒,用于加速初级离子并将其聚焦到样品上,3样品室和载物台,3二次离子镜筒,用于将二次离子传输到质量选择器(在LG和nanoSIMS设备中),4质量选择器,通过质荷比分离二次离子,5检测系统,用于计数感兴趣...
由于其一次脉冲就可得到一个全谱,离子利用率最高,能最好地实现对样品几乎无损的静态分析,而其更重要的特点是只要降低脉冲的重复频率就可扩展质量范围,从原理上不受限制。 TOF-SIMS测试用途 1、可对H-U元素进行定性分析(定量需标样),检测极限可达ppm或更低的浓度; 2、良好的深度分辨率(0.1～1 nm),但溅射速率...
SIMS仪器由以下基本元素组成: 1产生初级离子的离子源,2离子镜筒,用于加速初级离子并将其聚焦到样品上,3样品室和载物台,3二次离子镜筒,用于将二次离子传输到质量选择器(在LG和nanoSIMS设备中),4质量选择器,通过质荷比分离二次离子,5检测系统,用于计数感兴趣的离子种类。
二次离子质谱大科普！TOF-SIMS实例分析 二次离子质谱（Secondary Ion Mass Spectrometry，SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术，通过用一次离子激发样品表面，打出的二次离子因质量不同而飞行到探测器的时间不同，实现不同元素、同位素及分子结构的探测。一、技术简介 静态二次离子质谱（TOF-SIMS），即飞行时间二次...
1 什么是二次离子质谱(SIMS)? 二次离子质谱(Secondary Ion Mass Spectrometry,SIMS)是一种用于研究固体表面的技术,通过用聚焦的一次离子束溅射样品表面,并分析喷出的二次离子(如下图)。通过测量二次离子的质量来识别二次离子,从而确定表面的元素、同位素和/或分子组成。
Li、Na极片等样品,对水氧敏感,需要在手套箱制样,随后利用真空转移盒转移,否则将出现含氧谱峰异常的现象。 检测中心TOF-SIMS 材料与器件检测技术中心的TOF-SIMS 设备结构 相关参数: 检测元素范围:H-U 痕量分析灵敏度高:0.1-1ppm原子浓度 主要功能:
TOF-SIMS（Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry），即飞行时间二次离子质谱，是二次离子质谱（SIMS）技术的一个分类。它结合了二次离子质谱和飞行时间分析技术，具有高分辨率、高灵敏度、精确质量测定等特点，是目前高技术领域广泛使用的分析技术，可以分析元素、同位素、分子等信息。按照扫描方式，SIMS可以分...
TOF-SIMS结合了二次离子质谱和飞行时间器的功能,提高了检测样品元素成分和分布的准确性。 TOF-SIMS横向和纵向的分辨率高且质谱提供的灵敏度高,可以分析元素、同位素、分子等信息。 这些特点使得TOF-SIMS成为表面分析的主要技术之一,可以提供EDX、AES、XPS等技术无法提供的元素信息[3]。 3.2 分类 二次离子质谱主要有两...