🔍 透射电子显微镜(TEM)是一种强大的科研工具,用于观察和分析材料内部的微观结构。以下是关于TEM的详细解析:1️⃣ 仪器型号: 日本电子/JEOL JEM-2100 日本电子/JEOL JEM-F200 日本日立/HITACHI HT7800 (120kV) 美国赛默飞 FEI TF202️⃣ 原理与应用: TEM利用聚焦电子束投射到非常薄的样品上,通过透射或...
型号 JEM-F200 加工定制 否 点分辨率 0.19nm 线分辨率 0.10nm 加速电压 20-200kV 加速电压稳定度 0.5ppm/min(峰峰值) 探针电流 2.5nA(@束斑直径0.7nm) 能量发散度 0.3eV 污染速度 低于0.4nm/min 电子枪真空度 10-8Pa 预抽室 有 透镜系统稳定度 1ppm/min(峰峰值) 能谱仪 可选 能量分...
1️⃣ 仪器型号选择 🔍 - 日本电子/JEOLJEM-2100 - 日本电子/JEOLJEM-F200 - 日本日立/HITACHIHT7800(120KV) - 美国赛默飞FEITF202️⃣ 原理与应用 🧬 - TEM通过聚焦电子束投射到非常薄的样品上,透过样品的透射或衍射电子束形成图像,从而分析样品内部的微观组织结构。3️⃣ 测试项目 📋 - 表...
JEOL JEM-F200 Multi-purpose Electron Microscope Video Credit: JEOL USA, Inc. RequestAQuote DownloadPDF Copy Other Equipment by this Supplier Auto-Qualitative Analysis Software: msFineAnalysis Cryogenic Probes with Cryogenic Sensitivity and Automatic Tuning ...
JEOL/JEM-F200_TFEG配置场发射电子枪、高分辨物镜极靴(HR)、高衬度光阑,采用CCD照相,同时还配备电子能量损失谱仪(EELS)、EDS能谱仪、扫描透射探测系统及多种样品杆。主要功能及用途如下:1)普通(高分辨)透射成像模式:可以用来观察样品的形貌和物相分布,高分辨像可用于确定材料的晶体结构,观测微量相的分布、晶体...
透射电子显微镜(TEM)广泛应用于材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体、纳米技术等领域,可对显微形貌、晶体结构和相组织进行观察与分析,对材料微区化学成分定性和半定量检测,对复合材料界面特性进行研究等。 博仕检测实验室透射电镜设备型号:JEOL/JEM-F200_TFEG配置场发射电子枪、高分辨物镜极靴(HR)、高衬度光阑,采...
日本电子 透射电镜 TEM+HRTEM 自动进样三维 JEM-F200 进口 ￥400.00万 查看详情 德国 布鲁克红外光谱仪 INVENIO 傅立叶变换FTIR 研究级 进口 ￥28.00万 本店由中国供应商运营支持 获取底价 瑟奇科技(北京)有限公司 商品描述 价格说明 联系我们 获取底价 商品描述 价格说明 联系我们 型号 JEM-2100Plus 加工...
品牌/型号:JEOL,JEOL JEM-F200 (HR) 所在地区:陕西省 仪器说明:我们目前尚未与西安交通大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器,建议您联系相关单位,以确定是否可以对外开放。您也可以通过点击此处提交需求,委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试,我们将为您提供以下保...
JEOL/JEM-F200_TFEG配置场发射电子枪、高分辨物镜极靴（HR）、高衬度光阑，采用CCD照相，同时还配备电子能量损失谱仪（EELS）、EDS能谱仪、扫描透射探测系统及多种样品杆。主要功能及用途如下：1）普通（高分辨）透射成像模式：可以用来观察样品的形貌和物相分布，高分辨像可用于确定材料的晶体结构，观测微量相的分布...
JEOL JEM-F200 影像TEM resolution: 0.1nm STEM resolution: 0.16nm EDSDetector: SDD 100 mm2x 2 Solid angle: 1.7 其他功能Strain map 4K x 4K CCD FEI Talos-F200 影像TEM resolution: 0.1nm STEM resolution: 0.16nm EDSDetector: SDD 30 mm2x 4 ...