1.廠牌:JEOL 2.機型:JEM-2010F 3.加速電壓:200kV 4.電子槍:場發射電子源 5.點分辨率:0.23nm 6.線分辨率:0.1 nm 7.放大倍率:2,000倍～1,500,000倍 8.最大試片尺寸:直徑3 mm 9.可觀察範圍:2×1mm2 10.傾斜:-25°～25° 11.可偵測訊號:明-暗視野穿透電子影像、繞射圖像、選區成像、EDS光譜 ...
aThe particle size and morphology were evaluated by a dynamic light scattering method (Zetasizer Nano ZS,Malvern) and by transmission electron microscopy (TEM) (JeolJEM 2010). 微粒大小和形态学评估由一个动态光散射方法(Zetasizer Nano ZS, Malvern)和由传输电子显微镜术(TEM) (JeolJEM 2010年)。[transl...
日本电子 JEOL 透射电镜 TEM JEM-2100Plus 六硼化镧 进口 ￥250.00万 查看详情 德国蔡司ZEISS 扫描电镜 SEM 六硼化镧灯丝高分辨率 EVO10 进口 ￥100.00万 查看详情 德国 布鲁克红外光谱仪 INVENIO 傅立叶变换FTIR 研究级 进口 ￥28.00万 本店由中国供应商运营支持 获取底价 商品描述 价格说明 联系我们 型...
颗粒大小和形态是 eval uated (Zetasizer 纳米 ZS,莫尔文) 动态光散射法和用透射电子显微镜 (TEM) (JeolJEM 2010)。 翻译结果4复制译文编辑译文朗读译文返回顶部 eval的粒子大小和形态是的,动态光散射方法uated(zetasizernanozs,总部设)和传输电子显微镜(tem)(jeoljem2010)。
笔者应用粉末X射线衍射(XRD)方法,使用带有Cu Kα辐射(15kV、30mA)的衍射仪(MiniFlex, Rigaku)对CeO2NPs的制备进行特征描述;通过在200kV的加速电压下工作的JEM-2010(JEOL)确认其形态;使用环境透射电子显微镜(ETEM, JEM-1000K RS; JEOL)对CeO2NPs碳污染的形成和去除进行原位观察。该仪器具有高达ca.100Torr(13300...
zero-loss imagingAbstract Zero-loss electron filtering and core-loss electron filtering are newly developed imaging techniques in transmission electron microscopy (TEM). In this study, a new energy-filtering TEM, JEOL JEM-2010FEF, is used to take the zero-loss images and Si L2,3 core-loss ...
第一部分：透射电镜简介 一。透射电子显微镜及其光路图二。分辨率与放大率三。现状 一透射电子显微镜及其光路 电子显微镜可分为扫描（SEM)，透射(TEM，HRTEM)和扫描透射型(STEM)我校理化中心高分辨电子显微镜（高分辨电镜，HRTEM）机组的设备:1.JEM-2010型高分辨电子显微镜.日本电子光学公司(JEOL)产,LaB6灯丝。外围...
日本电子株式会社(JEOL) 型号JEM-2100 中文简称透射电子显微镜 英文简称TEM 产地日本 上市时间2010年7月29日 点分辨率:0.19nm 线分辨率:0.14nm 加速电压:80, 100, 120, 160, 200kV 倾斜角:25 EDS:13 JEM-1000 超高压透射电子显微镜 咨询 日本电子株式会社(JEOL) 型号JEM-1000 中文简称透射电子显微镜 ...
日本电子 JEOL 透射电镜 TEM JEM-2100Plus 六硼化镧 进口 ¥ 2500000.00 /台 日本电子,透射电镜,TEM 仪器仪表/光学仪器/显微镜 立即拨号 TEM透射电子显微镜主动式隔震台/主动减振台/Herz ¥ 18.00 /台 隔震台,隔震台厂家,隔震台品牌,隔震台价格,隔震台型号 电工电气/电工仪器仪表/其他电工仪器仪表 立...
Demonstration of atomic resolution Z-contrast imaging by a JEOL JEM-2010F scanning transmission electron microscope The collection of atomic resolution Z-contrast images, using an annular darkfield detector, has until recently been exclusively performed using the dedicat... EM James,ND Browning,AW ...