型号 JEM-F200 加工定制 否 点分辨率 0.19nm 线分辨率 0.10nm 加速电压 20-200kV 加速电压稳定度 0.5ppm/min(峰峰值) 探针电流 2.5nA(@束斑直径0.7nm) 能量发散度 0.3eV 污染速度 低于0.4nm/min 电子枪真空度 10-8Pa 预抽室 有 透镜系统稳定度 1ppm/min(峰峰值) 能谱仪 可选 能量分...
上海大学材料科学与工程学院近日宣布，其新购置的高分辨热场透射电子显微镜（JEM-F200）已顺利完成安装调试，并通过学校验收，即将面向全校师生及社会各界开放预约测试。作为学院的重要公共平台，这台大型仪器设备将极大推动材料科学领域的研究进展，满足各类测试需求。图1展示了上海大学材料科学与工程学院新购置的高分辨热场...
上海大学材料科学与工程学院近日迎来了一项重要进展:院级公共平台新购置的首台大型仪器设备-高分辨热场透射电子显微镜(JEM-F200)顺利完成安装调试,并通过了学校验收,即将正式对外开放。作为学校及学院的大型贵重仪器设备,该显微镜的主体功能已能够完全...
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1.日本电子JEM-F200 图1 JEM-F200场发射透射电子显微镜 日本电子JEM-F200 (HR)是一款新型的冷场发射电子显微镜。JEM-F200配备的SpecPorter系统,将样品杆安装在指定的位置上,只用一个按钮即能安全地插入或拔出。 2.日本电子JEM-ARM300F GRAND ARM透射电子显微镜 ...
1.日本电子JEM-F200场发射透射电子显微镜 图1 JEM-F200场发射透射电子显微镜 日本电子JEM-F200 (HR)是一款新型的冷场发射电子显微镜。JEM-F200配备的SpecPorter系统,将样品杆安装在指定的位置上,只用一个按钮即能安全地插入或拔出。 2.日本电子JEM-ARM300F GRAND ARM透射电子显微镜 ...
🔍 透射电子显微镜(TEM)是一种强大的科研工具,用于观察和分析材料内部的微观结构。以下是关于TEM的详细解析:1️⃣ 仪器型号: 日本电子/JEOL JEM-2100 日本电子/JEOL JEM-F200 日本日立/HITACHI HT7800 (120kV) 美国赛默飞 FEI TF202️⃣ 原理与应用: ...
🔍 科研神器:TEM测试全解析! 👀 探索微观世界的奥秘,TEM测试来帮忙!我们新引进的日本电子JOEL JEM-f200 TEM设备,为你揭晓科研的真相。它具备多种测试功能,包括:1️⃣ 常规形貌观察:从普通形貌到高分辨形貌(HRTEM),细节尽收眼底。2️⃣ EDS能谱分析:点扫、线扫、面扫Mapping,元素分布一目了然。
1.日本电子JEM-F200场发射透射电子显微镜 图1 JEM-F200场发射透射电子显微镜 日本电子JEM-F200 (HR)是一款新型的冷场发射电子显微镜。JEM-F200配备的SpecPorter系统,将样品杆安装在指定的位置上,只用一个按钮即能安全地插入或拔出。 2.日本电子JEM-ARM300F GRAND ARM透射电子显微镜 ...
The JEM-F200 “F2” Multipurpose Analytical S/TEM is the only advanced analytical, high throughput 200kV S/TEM in its class to offer a Cold Field Emission Gun and dual Silicon Drift Detectors.