如图1所用的JEOL JEM-2100F透射电子显微镜,其放大倍数极限与市面上常见的球差电镜类同,能够达到1500 k倍,然而其分辨率仅为0.19 nm,不同原子等的成像无明显区别,无法如球差电镜的结果图一样实现原子级的分辨能力。 3 电镜照片处理的常用软件 遵从基本原理,只要能够测量长度的方式均能对电镜照片进行后处理分析,...
设备型号:JEM-2100F 设备厂商:日本JEOL用途:用于观察材料的微观形貌结构和成分技术参数1.点分辨率0.19nm 2.线分辨率0.14nm 3.加速电压:80,100,120,160,200kV 4.倾斜角25° 5.STEM分辨率0.20nm 6.最大放大倍数150万倍; 7.HAADF探头; 8.单、双倾样品台; 9.日本JEOL公司的电冷 100 mm2 EDS; 10.美国...
仪器型号FEI Tecnai F20, TF30,JEOL JEM 2100F,FEI Talos F200X等 预约次数103719次 服务周期收到样品后平均3.0-7.5工作日完成 立即预约 部分论文致谢 申请用户 高校 下单项目 影响因子 期刊名称 奖励现金 申请时间 {{moduleItem.modulename}} 样品要求 ...
JEOL JEM-2100F 影像TEM resolution: 0.1nm STEM resolution: 0.2nm JEOL JEM-F200 影像TEM resolution: 0.1nm STEM resolution: 0.16nm EDSDetector: SDD 100 mm2x 2 Solid angle: 1.7 其他功能Strain map 4K x 4K CCD FEI Talos-F200 影像TEM resolution: 0.1nm ...
JEOL JEM-2100F 影像 TEM resolution: 0.1nm STEM resolution: 0.2nm JEOL JEM-F200 影像 TEM resolution: 0.1nm STEM resolution: 0.16nm EDS Detector: SDD 100 mm2 x 2 Solid angle: 1.7 其他功能 Strain map 4K x 4K CCD FEI Talos-F200 影像 TEM resolution: 0.1nm STEM resolution: 0.16nm EDS ...
场发射透射电子显微镜(TEM) 1.测试周期:5-10个工作日 2.测试仪器:JEM F200、Talos F200X, FEI Tecnai F20、 JEOL JEM 2100F 3.应用范围:TEM可对样品进行形貌观察或物相分析,可利用高分辨电子显微方法直接…
透射电子显微镜TEM..型号:TF20,Jeol 2100F测试项目:可测项目:形貌、点扫、线扫、mapping、衍射备注:非磁、弱磁、强磁样品均可拍摄样品要求:1. 样品状态粉末、液体样品均可,薄膜和块体等无法直接测试,需
仪器型号FEI Tecnai F20, TF30,JEOL JEM 2100F,FEI Talos F200X等 预约次数33352次 服务周期收到样品后平均3.6-11.8工作日完成 立即预约 部分论文致谢 申请用户 高校 下单项目 影响因子 期刊名称 奖励现金 申请时间 {{moduleItem.modulename}} 样品要求 ...
型号:FEI Tecnai F20, TF30,JEOL JEM 2100F,FEI Talos F200X等 测试项目: 可测项目:形貌、能谱点扫、能谱线扫、mapping、HAADF(STEM)、衍射 备注:非磁、弱磁、强磁样品均可拍摄 样品要求: 1. 样品状态 粉末、液体样品均可,薄膜和块体等无法直接测试,需要离子减薄、双喷、FIB、切片制样请提前说明并确认 ...
透射电镜测试仪器型号 FEI Tecnai F20, TF30,JEOL JEM 2100F,FEI Talos F200X 透射电镜测试样品需求 粉体需5mg左右,无磁性单颗粉末尺寸小于1μm; 液体1ml以上,如是分散的液体,尽量浓度稍大一些,测试老师可以根据实际情况稀释拍摄; (浓度有特殊要求请备),可以自己制样。