记笔记 HRTEM分析实例演示--利用FFT滤波查找析出相和位错【DM软件技能包分享】第4期 关注我们锁定更多材料科学研究领域的干货分享 DM软件安装包,有需可联系我们工作人员16601182883 中科科辅主营业务:TEM微观结构表征、晶体学取向、FIB微纳加工、力学性能、组织形貌、样品制备、成分检测、 X射线衍射、综合物性、生物测试...
分析步骤还是跟上一期文章一样：图4 Mg中[2-1-10]、[01-10] 的 g矢量 明场像分析过程01选择目标位错选择位错：如图4中黄色线段-位错，蓝色线段-位错，绿色线段-位错02确定伯氏矢量根据消光表来确定每根位错的伯氏矢量：由上表可知，<c+a>位错无论是在那个g矢量下都不会消光，所以示例图中黄色线段-位错 ...
一、TEM图怎么分析样品尺寸? 1、打开Nano Measurer软件,打开需要统计的TEM图片(Jpg格式),打开后变成这种样式2、首先设置标尺:先在原有标尺上划线,然后点击设置-标尺(否则设置里面的标尺是灰色的,无法设置)3、对颗粒尺寸进行统计,不低于100个点。 拖动鼠标在电镜上标示颗粒,每标示一个颗粒,程序会记录其序号和粒径,...
失效分析常用工具介绍 透射电镜（TEM）TEM一般被使用来分析样品形貌（morhology），金相结构（crystallographic structure）和样品成分分析。TEM比SEM系统能提供更高的空间分辨率，能达到纳米级的分辨率，通常使用能量为60-350keV的电子束。与TEM需要激发二次电子或者从样品表面发射的电子束不同，TEM收集那些穿透样品的电子...
2022年2月10日更新:以TC4/Ag扩散焊的接头界面物相鉴定为例详细介绍TEM数据的分析 下图为TC4/Ag扩散焊接界面的电子显微形貌,TC4/Ag界面有中间层化合物生成,通过扫描电镜能谱分析,可知界面的Ti与Ag原子的比例为 1:1,推测生成了AgTi化合物。为了验证这个推测,可以对TC4/Ag界面进行了电子衍射和晶格条纹的测定。
1、进行选区衍射时，需要分析的微区往往为亚微米级，如此微小的光阑很难制备出来，不易精确地置于需要观测的视场中；2、在很强的电子照射下，光阑会很快污染而不能再使用；3、现在的电镜极靴缝都非常小，放入样品台以后很难再放得下一个光阑；现在电镜的选区光阑可以做到非常小，如JEOL2010的选区光阑孔径分别为：5...
tem分析功能有判断已知纳米结构的生长方向、手动解析纳米晶体的晶体结构参数、自动解析未知纳米晶体的原子结构等。一、判断已知纳米结构的生长方向。首先拍摄形貌像，并且在同一位置做电子衍射，在形貌像上找出优势生长面，与电子衍射花样对照，找出与透射斑连线垂直于此晶面的透射斑，并进行标定，根据晶面指数...
激光 半导体激光器TEM分析 边发射半导体激光器(EEL)通常用半导体激光器芯片的的解理面作为谐振腔,在前后两腔上分别镀上高反膜和增透膜形成谐振腔镜,实现激光器的单面出光。不同膜层结构可以使腔面具有不同的光学特性,且导体激光器的腔面损伤是制约半导体激光器高可靠性的因素之一,通过TEM分析HR膜和AR膜结构是有效...
#TEM分析#你们都是在那个单位呢?各位前辈可以内推一下么 善意第三人 三星应该还不错啊! 创建于: 18-07-173赞 0踩 0评论 做了三年多的失效分析,TEM和FIB.SEM,突然发现找工作好难。 康玉玺 感觉很尴尬的职位 换成ts估计还有点前途 创建于: 17-11-21 0赞 0踩 1评论 ...
锂电池材料TEM分析方法 TEM 模式表征 TEM 模式主要分为像模式和衍射模式两类。像模式通常用来观察样品的形貌。此外，运用高分辨透射电子显微术（HRTEM），可以得到原子尺度分辨率的结构图像。衍射模式通常使用选区电子衍射（SEAD）方法，获得选定区域的电子衍射结果，可以分析选定位置的结晶性和相结构信息。（a）TEM明场...