1.扫描电镜(SEM) 质厚衬度:由样品不同微区的原子序数和厚度差异形成。 衍射衬度:由晶体试样各部分满足布拉格反射条件不同和结构振幅的差异形成。 2. 透射电镜(TEM) 质量厚度衬度:由样品不同微区间的原子序数或厚度差异形成。 五、样品要求 1. 扫描电镜(SEM):样品厚度无严格要求,可通过切、磨、抛光等方法制备...
铣削:自动或手动完成铣削加工 图 铣削阶梯法制备的样品TEM照片 削薄法(H-bar): 使用机械切割和研磨等方法将试样做到50-100μm厚 使用FIB沉积一层Pt保护层 使用FIB铣削掉两侧的材料 图 削薄法工作示意图 扫描电镜(SEM) 扫描电镜样品制备比透射电镜样品制备简单,无需包埋和切片。 样品要求: 样品须为固体...
· SEM:简单,可直接观察样品表面或断面 3. 分辨率 · TEM:分辨率更高,可以观察原子晶格像 · SEM:分辨率较低,最多只能表征纳米相 4. 性能 · TEM:可以表征样品的质厚衬度和内部晶格结构 · SEM:主要可以标定某一处的元素含量 5. 用途 · TEM:研究材料的微观结构、晶体结构和缺陷等 · SEM:观察材料的表面...
冷冻电镜是扫描电镜超低温冷冻制样传输技术(Cryo-SEM)可以实现液体,半液体和电子束敏感样品的直接观测,例如生物和高分子材料。样品经超低温冷冻,断裂和镀膜制样(喷金/喷碳)后可由冷冻传输系统置于电镜中的冷台上(温度可至-185°C)观察。 适用范围:塑料,橡胶及高分子材料,组织化学,细胞化学等 样品制备要求:能够保...
透射电子显微镜增加附件后,其功能可以从原来的样品内部组织形貌观察(TEM)、原位的电子衍射分析(Diff),发展到还可以进行原位的成分分析(能谱仪EDS、特征能量损失谱EELS)、表面形貌观察(二次电子像SED、背散射电子像BED)和透射扫描像(STEM)。 将样品台组合设计为高温台,低温台以及拉伸台,透射电子显微镜也能在加热状态...
电子显微镜(TEM和SEM)作为现代材料表征的重要工具,其电子束与样品的相互作用不仅提供了丰富的信息,同时也可能对样品造成不可忽视的损伤。这些损伤效应主要源于两类电子散射机制:弹性散射和非弹性散射。 弹性散射主要发生在入射电子与原子核之间,虽然能够产生有价值的衍射图案和...
从五大角度分析SEM和TEM的区别 有关扫描电镜与透射电镜的最大不同就是扫描电镜，它是对试样表面结构特征的一种观察；透射电镜是对试样内部精细结构进行观测；其次、扫描电镜相当和拍摄物体，所得为面，仅为面立体三维之图像；透射电镜相当于普通显微镜，它只是以波长较短的电子束代替能衍射的可见光来达到显微目的，它...
SEM主要用于高分子材料或高分子基材料,而TEM则主要用于纳米材料。需要注意的是,SEM有时看不出材料是片层还是棒状的(纳米材料容易团聚在表面,形貌不准确),这时需要用TEM分散制样后才能看出来。 表征目的 🎯 SEM可以用于观察材料拉伸断口截面或复合材料横截面(有对应的横截铜台),还可以观察水凝胶等自愈合区域的形貌...
从五大角度分析SEM..扫描电镜与透射电镜的区别:扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)是两种常用的电子显微镜,它们在观察样品的表面和内部结构方面各有特点。以下是对这两种显微镜的详细比较:一、成像原理1. 扫描电镜(SEM)
四大常见电镜制样方法简介:TEM、SEM、冷冻、金相 引言 应用电子显微镜高分辨本领和高放大倍率,对物体组织形貌和结构特征进行分析和研究的近代材料物理测试方法。但样品的制作直接影响着结果的准确性,所以制作满足要求的样品就成了整个试验的重点。现将一些常见电镜制样方法简介如下。