TEM工作图 TEM成像过程 STEM分析图 EELS原理图 透射电镜的优点是: (1)高分辨率(高的有效放大倍数); (2)通过衍射获得结构信息; (3)可分析样品的元素组成。 原子力显微镜(AFM) AFM通过检测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。 将一对微弱力极端敏感的微悬臂...
以下将简单阐述扫描电子显微镜（SEM）、透射电子显微镜（TEM）、原子力显微镜（AFM）、扫描隧道显微镜（STM...
一分钟看懂四大显微设备场发射扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)、原子力显微镜(AFM)、扫描隧道显微镜(STM)基础知识 02:54 【科研技巧】文献还没看明白就要做文献汇报?汇报的时候长篇大论,导师头都要摇掉? 03:06 研究生必看!学会正确读文献是读研的必修技能!如何高效/正确的阅读文献?
原子力显微镜（AFM）AFM通过检测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的针尖接近样品，通过其相互作用，使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。利用传感器检测这些变化来获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。原子力显微...
AFM是通过探测试样表面与一微型力敏感元件间极弱的原子间相互作用力，对物质表面结构与特性进行研究。把一对对微弱力反应极为灵敏的微悬臂的一端固定在试样上，另端针尖靠近试样并通过它们之间的相互作用使微悬臂产生变形或改变运动状态。利用传感器检测这些变化来获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。AFM分为接触式、...
AFM通过检测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。 将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定,另一端的针尖接近样品,通过其相互作用,使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。 利用传感器检测这些变化来获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。
SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别主要是名称不同、工作原理不同、作用不同、 一、名称不同 1、SEM,英文全称:Scanningelectronmicroscope,中文称:扫描电子显微镜。 2、TEM,英文全称:TransmissionElectronMicroscope,中文称:透射电子显微镜。 3、XRD,英文全称:Diffractionofx-rays,中文称:X射线衍射。
扫描电子显微镜(SEM) SEM是利用细聚焦电子束在样品表面扫描时激发出来的各种物理信号来调制成像的。 SEM是采用逐点成像的方法,把样品表面不同的特征,按顺序和比例转化为图像,如二次电子像。 背散射电子像等 扫描电镜的优点是: (1)有较高的放大倍数; ...
答:TEM(透投射电子显微镜):辨率为0.1~0.2nm,放大倍数为几万~百万倍,用于观察超微结构;操作难度高,样品制备复杂,识图除了质厚衬度外,其他衬度原理都很复杂,造价及维护费用高,在确定晶体位错和层错及原子和分子的晶格像及纳米材料的基础研究等方面较SEM优越。应用:用于晶体缺陷分析和显微组织分析。 SEM(扫描电子显...
TEM是聚焦电子束投射到非常薄的样品上,透过样品的透射电子束或衍射电子束所形成的图像来分析样品内部的微观组织结构。 TEM常用于研究纳米材料的结晶情况,观察纳米粒子的形貌、分散情况及测量和评估纳米粒子的粒径。 实例图片: 扫描隧道显微镜(STM) STM是一种利用量子理论中的隧道效应探测物质表面结构的仪器。