TEM工作图 TEM成像过程 STEM分析图 EELS原理图 透射电镜的优点是: (1)高分辨率(高的有效放大倍数); (2)通过衍射获得结构信息; (3)可分析样品的元素组成。 原子力显微镜(AFM) AFM通过检测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。 将一对微弱力极端敏感的微悬臂...
9.透射电子显微技术TEM10.扫描电子显微技术SEM 11.原子力显微镜AFM12.扫描隧道显微镜STM 13.原子吸收光谱...
一分钟看懂四大显微设备场发射扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)、原子力显微镜(AFM)、扫描隧道显微镜(STM)基础知识 02:54 【科研技巧】文献还没看明白就要做文献汇报?汇报的时候长篇大论,导师头都要摇掉? 03:06 研究生必看!学会正确读文献是读研的必修技能!如何高效/正确的阅读文献?
AFM是通过探测试样表面与一微型力敏感元件间极弱的原子间相互作用力，对物质表面结构与特性进行研究。把一对对微弱力反应极为灵敏的微悬臂的一端固定在试样上，另端针尖靠近试样并通过它们之间的相互作用使微悬臂产生变形或改变运动状态。利用传感器检测这些变化来获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。AFM分为接触式、...
原子力显微镜（AFM）AFM通过检测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的针尖接近样品，通过其相互作用，使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。利用传感器检测这些变化来获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。原子力...
AFM通过检测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。 将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定,另一端的针尖接近样品,通过其相互作用,使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。 利用传感器检测这些变化来获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。
SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别主要是名称不同、工作原理不同、作用不同、 一、名称不同 1、SEM,英文全称:Scanningelectronmicroscope,中文称:扫描电子显微镜。 2、TEM,英文全称:TransmissionElectronMicroscope,中文称:透射电子显微镜。 3、XRD,英文全称:Diffractionofx-rays,中文称:X射线衍射。
原子力显微镜(AFM) AFM通过检测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。 将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定,另一端的针尖接近样品,通过其相互作用,使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。 利用传感器检测这些变化来获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。
AFM通过检测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。 将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定,另一端的针尖接近样品,通过其相互作用,使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。 利用传感器检测这些变化来获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。
AFM原理:针尖与表面原子相互作用 AFM的扫描模式有接触模式和非接触模式,接触式利用原子之间的排斥力的变化而产生样品表面轮廓;非接触式利用原子之间的吸引力的变化而产生样品表面轮廓。 接触模式 动态模式 扫描隧道显微镜(STM) 隧道电流强度对针尖和样品之间的距离有着指数依赖关系,根据隧道电流的变化,我们可以得到样品表...