答:TEM(透投射电子显微镜):辨率为0.1~0.2nm,放大倍数为几万~百万倍,用于观察超微结构;操作难度高,样品制备复杂,识图除了质厚衬度外,其他衬度原理都很复杂,造价及维护费用高,在确定晶体位错和层错及原子和分子的晶格像及纳米材料的基础研究等方面较SEM优越。应用:用于晶体缺陷分析和显微组织分析。 SEM(扫描电子显...
局部力学性能测定：AFM可以测量样品局部的力学性能，例如硬度、弹性模量和粘附力。示例：在生物材料如细胞...
TEM（透射电子显微镜）：工作原理：电子束穿透超薄样品，透射电子经过样品后形成图像。特点：能够提供样品内...
TEM（透射电子显微镜）利用电子束穿透样品，从不同角度观察其内部结构，分辨率极高，可达原子级别。TEM在研究半导体、纳米材料、生物大分子等方面具有优势，但样品制备要求严格，操作复杂。AFM（原子力显微镜）通过微悬臂与样品表面的相互作用力形成图像，可以同时进行表面形貌和力学性质的测量。AFM无需真空环境，...
TEM应用：研究纳米材料结晶状况、观察纳米粒子形态、测量和评估纳米粒子大小。实例图片：TEM在纳米材料研究领域发挥重要作用。扫描隧道显微镜（STM）工作原理：利用量子理论中的隧道效应探测物质表面结构。探针携带电荷，通过材料时电流波动形成图像。实例图片：STM技术展现原子级表面细节。原子力显微镜（AFM）工作...
AFM，原子力显微镜，则是用于观察样品表面的形貌。通过针尖与样品表面间的原子间相互作用力成像，无需真空环境，适用于多种样品。每种技术都有其独特的优势和适用范围，SEM和TEM常用于观察材料的微观和超微观结构，XRD用于物相分析，AES分析元素浓度分布，STM和AFM则分别用于观察原子级分辨率的表面形貌。
AFM通过检测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的针尖接近样品，通过其相互作用，使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。利用传感器检测这些变化来获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。原子力显微镜的优点是：（1）...
SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别主要是名称不同、工作原理不同、作用不同、 一、名称不同 1、SEM,英文全称:Scanningelectronmicroscope,中文称:扫描电子显微镜。 2、TEM,英文全称:TransmissionElectronMicroscope,中文称:透射电子显微镜。 3、XRD,英文全称:Diffractionofx-rays,中文称:X射线衍射。
AFM（原子力显微镜）通过检测与样品表面的原子间相互作用力，研究物质表面结构及性质，提供三维表面图，且不会损害样品，具有广泛的适用性。SEM的优点包括高放大倍数、大景深和简易制样，适用于快速表面特征观察；TEM用于纳米材料的内部结构研究；STM在原子级别上提供高分辨率表面成像；AFM提供三维表面图，适用...
TEM就是将聚焦电子束投影在很细的试样表面，通过试样透射电子束或者衍射电子束产生的像对试样内微观组织结构进行分析。TEM通常被用来研究纳米材料结晶，观测纳米粒子形貌，分散以及对纳米粒子粒径大小进行测量与评价。实例图片：扫描隧道显微镜（STM）STM就是应用量子理论隧道效应来检测物质表面结构。一个带着微小电荷的探针...