答:1) TEM的成像原理:是以波长极短的电子束作为照明源,用电磁透镜聚焦成像,并一次成像。 SEM的成像原理:是利用电磁透镜聚焦的细高能电子束,在扫描线圈的磁场作用下,电子束在样品表面逐点扫描时激发出的各种物理信号来调制成像。 2) TEM的调节放大倍数原理:样品与物镜之间的距离固定不变,通过改变物镜的焦距和像距...
TEM工作原理: 以波长很短的电子束做照明源,以高能电子(50-200 keV)穿透样品,根据样品不同位置的电子透过强度不同或电子透过晶体样品的衍射方向不同,经过后面的电磁透镜的放大后,在荧光屏上显示出图象。 SEM工作原理: 由最上边电子枪发射出来的电子束,经栅极聚焦后,在加速电压作用下,经过二至三个电磁透镜所组成的...
扫描电镜成像是利用细聚焦高能电子束在样件表面激发各种物理信号，如二次电子、背散射电子等，通过相应的检测器来检测这些信号，信号的强度与样品表面形貌有一定的对应关系。用背反射信号进行形貌分析时，其分辨率远比二次电子低。可根据背散射电子像的亮暗程度，判别出相应区域的原子序数的相对大小，由此可对金属及其合...
科研干货!SEM, TEM,红外,紫外,核磁,质谱,TEM,ICP等表征动图解析大合集 紫外吸收光谱 UV 分析原理:吸收紫外光能量,引起分子中电子能级的跃迁 谱图的表示方法:相对吸收光能量随吸收光波长的变化 提供的信息:吸收峰的位置、强度和形状,提供分子中不同电子结… 科学谷测试平台 ICP-OES常见问题与技巧大全 EWG1990仪器...
SEM就是利用逐点成像，将试样表面的不同特性，按照先后顺序及比例变换成影像，例如二次电子像等。背散射电子像 扫描电镜的优点是：1）有较高的放大倍数；2）有很大的景深，视野大，成像富有立体感，3）试样制备简单。实例图片：射电子显微镜（TEM）TEM就是将聚焦电子束投影在很细的试样表面，通过试样透射电子束或者...
SEM衬度原理:表面形貌衬度(二次电子)、成分衬度(背散射电子);应用:表面形貌观察、微区成分分析。TEM衬度原理:质量-厚度衬度(吸收衬度)、衍射衬度(晶体取向差异);应用:晶体结构分析、原子尺度成像。 1. **电子显微分析方法**:SEM(扫描电镜)通过扫描样品表面成像;TEM(透射电镜)利用穿透样品电子成像;STEM(扫描...
TEM、SEM图像衬度原理分别是什么 相关知识点: 试题来源: 解析 TEM:由于穿过试样各点后电子波的相位差情况不同,在像平面上电子波发生干涉形成的合成波色不同,形成图像上的衬度 SEM:背散射电子能量高,以直线轨迹溢出样品表面,背向检测器的表面无法收集电子变成阴影,可以分析凹面样品 ...
STEM成像原理 与透射电子显微镜（TEM）的平行电子束成像方式不同，扫描透射电子显微镜（STEM）采用的是聚焦电子束在样品上进行逐点扫描的技术。其独特之处在于，探测器被安置在试样下方，用以接收透射电子束流或弹性散射电子束流。经过放大处理后，这些电子束流在荧光屏上呈现出明场像和暗场像，从而为研究者提供更加...
TEM的原理是利用电子束通过透射样品后,使得电子通过凸透镜和凹透镜的组合透镜系统,进一步通过透过这几个组合透镜的样品,然后通过透明薄膜(通常是金属网或碳薄膜)传递到观察屏幕上,从而产生电子图像。 2.分辨率: SEM的分辨率通常较低,一般在纳米级别,具体取决于电子枪、透镜系统和探测器的性能。而TEM的分辨率通常较高,...