TEM工作原理: 以波长很短的电子束做照明源,以高能电子(50-200 keV)穿透样品,根据样品不同位置的电子透过强度不同或电子透过晶体样品的衍射方向不同,经过后面的电磁透镜的放大后,在荧光屏上显示出图象。 SEM工作原理: 由最上边电子枪发射出来的电子束,经栅极聚焦后,在加速电压作用下,经过二至三个电磁透镜所组成的...
SEM的原理是利用电子束与样品表面的相互作用来产生显微图像。电子束从电子枪中发射出来,经过束缚磁透镜系统进行聚焦,然后扫描在样品表面,与样品表面的原子和分子产生相互作用,产生一系列的二次电子、次级电子等,这些次级电子会被探测器接收并转化为电信号,最终形成样品表面的电子图像。 TEM的原理是利用电子束通过透射样品...
答:1) TEM 的成像原理:是以波长极短的电子束作为照明源,用电磁透镜聚焦成像,并一次成像。SEM 的成像原理:是利用电磁透镜聚焦的细高能电子束,在扫描线圈的磁场作用下,电子束在样品表面逐点扫描时激发出的各种物理信号来调制成像。2) TEM 的调节放大倍数原理:样品与物镜之间的距离固定不变,通过改变物镜的焦距和像距...
扫描电子显微镜(SEM)与透射电子显微镜(TEM)的原理分别是什么?相关知识点: 试题来源: 解析 答:扫描电镜是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像的一种电子显微镜;利用磁透镜将电子束聚焦到样品表面并在样品表面快速扫描,通过电子穿透样品成像,既有透射电子显微镜功能,又有扫描电子显微镜功能的一种显微镜。
TEM是一种利用电子束与样品相互作用,观察和分析样品内部结构的显微镜。相比于SEM,TEM能够提供更高的分辨率和更丰富的样品信息,对于分析样品的晶体结构、纳米尺度的材料性质等具有重要意义。 原理 TEM的原理是将电子束通过透射的方式作用在样品上,通过对透射电子的检测和分析来获得样品的内部结构信息。TEM主要基于以下几种...
01扫描电子显微镜(SEM)SEM (Scanning Electron Microscope) - 扫描电子显微镜:SEM是一种利用电子束扫描样品表面并产生图像的显微镜。通过聚焦的电子束和样品之间的相互作用,SEM能够生成高分辨率的表面拓扑图像,并提供有关样品形貌、成分和结构的信息。SEM是利用细聚焦电子束在样品表面扫描时激发出来的各种物理信号来调制...
SEM制样对样品的厚度没有特殊要求，可以采用切、磨、抛光或解理等方法将特定剖面呈现出来，从而转化为可以观察的表面。这类表面若直接观测，所见仅仅是表面加工损伤而已，通常应采用不同化学溶液择优腐蚀以获得利于观测的衬度。然而，腐蚀使得试样丢失了原有结构的一些真实状况，也引入了一些人为干扰，对于试样中最小...
答:1)原理:透射电镜是利用成像电磁透镜成像,并一次成像;而扫描电镜的成像则不需要成像透镜,其图像是按一定时间空间顺序逐点形成,并在镜体外显像管上显示。 2)SEM喷金原因:高分子样品多为不导电材料,在入射电子束照射表面易累积电荷,这样会严重影响图像的质量; 3)TEM染色原因:在用透射电镜观察一些超薄的高分子样品...
TEM成像过程 与平行电子束的TEM不同,STEM成像是利用聚集的电子束在样品上扫描完成的,与SEM不同的是探测器置于样品下方,探测器接收透射电子束流或者弹性散射电子束流并将其放大,荧光屏显示明、暗场像。 STEM分析图 入射电子束照射试样表面发生弹性散射,一部分电子所损失能量值是样品中某个元素的特征值,由此获得能量损...