答:1) TEM 的成像原理:是以波长极短的电子束作为照明源,用电磁透镜聚焦成像,并一次成像。SEM 的成像原理:是利用电磁透镜聚焦的细高能电子束,在扫描线圈的磁场作用下,电子束在样品表面逐点扫描时激发出的各种物理信号来调制成像。2) TEM 的调节放大倍数原理:样品与物镜之间的距离固定不变,通过改变物镜的焦距和像距...
TEM工作原理: 以波长很短的电子束做照明源,以高能电子(50-200 keV)穿透样品,根据样品不同位置的电子透过强度不同或电子透过晶体样品的衍射方向不同,经过后面的电磁透镜的放大后,在荧光屏上显示出图象。 SEM工作原理: 由最上边电子枪发射出来的电子束,经栅极聚焦后,在加速电压作用下,经过二至三个电磁透镜所组成的...
1. 扫描电镜(SEM):样品厚度无严格要求,可通过切、磨、抛光等方法制备表面。 2. 透射电镜(TEM):样品需要非常薄,通常只有10～100nm厚,以确保电子束能穿过样品。 通过以上比较,可以看出扫描电镜和透射电镜在成像原理、结构组成、功能、衬度原理和样品要求等方面都有显著区别。每种显微镜都有其独特的应用领域和优势,...
透射电子显微镜（TEM）透射电镜是把经加速和聚焦的电子束投射到非常薄的样件上，电子与样品中的原子碰撞，而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此，可以形成明暗不同的影像，影像将在放大、聚焦后在成像器件上显示出来。透射电镜的优点是：（1）高分辨率（高的有效放大倍数）；（2...
原理:采用从液态金属镓中提取离子束,并通过调节束流强度对指定区域进行快速精细处理。 方法:铣削阶梯法,削薄法(H-bar) 铣削阶梯法: 预处理:铣削出两个反向的阶梯槽,中间留出极薄的TEM试样 标记:刻蚀出定位标记 定位:用离子束扫描定位标记,确定铣削区域 铣削:自动或手动完成铣削加工 图 铣削阶梯法制备的样品TE...
TEM的原理是利用电子束通过透射样品后,使得电子通过凸透镜和凹透镜的组合透镜系统,进一步通过透过这几个组合透镜的样品,然后通过透明薄膜(通常是金属网或碳薄膜)传递到观察屏幕上,从而产生电子图像。 2.分辨率: SEM的分辨率通常较低,一般在纳米级别,具体取决于电子枪、透镜系统和探测器的性能。而TEM的分辨率通常较高,...
SEM就是利用逐点成像，将试样表面的不同特性，按照先后顺序及比例变换成影像，例如二次电子像等。背散射电子像 扫描电镜的优点是：1）有较高的放大倍数；2）有很大的景深，视野大，成像富有立体感，3）试样制备简单。实例图片：射电子显微镜（TEM）TEM就是将聚焦电子束投影在很细的试样表面，通过试样透射电子束或者...
一、 基本原理 1.扫描电子显微镜（SEM）：主要利用电子束扫描样品表面的方式来获取图像。电子束扫描样品表面时，会激发出二次电子、背散射电子和其他信号，这些信号被探测器捕获并转换成图像。SEM的成像依赖于表面信号，因此特别适合观察样品的表面结构和形貌。2.透射电子显微镜（TEM）：则依靠电子束穿透样品来获得图像...
TEM TEM是一种利用电子束与样品相互作用,观察和分析样品内部结构的显微镜。相比于SEM,TEM能够提供更高的分辨率和更丰富的样品信息,对于分析样品的晶体结构、纳米尺度的材料性质等具有重要意义。 原理 TEM的原理是将电子束通过透射的方式作用在样品上,通过对透射电子的检测和分析来获得样品的内部结构信息。TEM主要基于以下...