答:1) TEM 的成像原理:是以波长极短的电子束作为照明源,用电磁透镜聚焦成像,并一次成像。SEM 的成像原理:是利用电磁透镜聚焦的细高能电子束,在扫描线圈的磁场作用下,电子束在样品表面逐点扫描时激发出的各种物理信号来调制成像。2) TEM 的调节放大倍数原理:样品与物镜之间的距离固定不变,通过改变物镜的焦距和像距...
SEM和TEM的原理和应用有许多区别。 1.原理: SEM的原理是利用电子束与样品表面的相互作用来产生显微图像。电子束从电子枪中发射出来,经过束缚磁透镜系统进行聚焦,然后扫描在样品表面,与样品表面的原子和分子产生相互作用,产生一系列的二次电子、次级电子等,这些次级电子会被探测器接收并转化为电信号,最终形成样品表面...
TEM工作原理: 以波长很短的电子束做照明源,以高能电子(50-200 keV)穿透样品,根据样品不同位置的电子透过强度不同或电子透过晶体样品的衍射方向不同,经过后面的电磁透镜的放大后,在荧光屏上显示出图象。 SEM工作原理: 由最上边电子枪发射出来的电子束,经栅极聚焦后,在加速电压作用下,经过二至三个电磁透镜所组成的...
TEM TEM是一种利用电子束与样品相互作用,观察和分析样品内部结构的显微镜。相比于SEM,TEM能够提供更高的分辨率和更丰富的样品信息,对于分析样品的晶体结构、纳米尺度的材料性质等具有重要意义。 原理 TEM的原理是将电子束通过透射的方式作用在样品上,通过对透射电子的检测和分析来获得样品的内部结构信息。TEM主要基于以下...
SEM制样对样品的厚度没有特殊要求，可以采用切、磨、抛光或解理等方法将特定剖面呈现出来，从而转化为可以观察的表面。这类表面若直接观测，所见仅仅是表面加工损伤而已，通常应采用不同化学溶液择优腐蚀以获得利于观测的衬度。然而，腐蚀使得试样丢失了原有结构的一些真实状况，也引入了一些人为干扰，对于试样中最小...
答:1)原理:透射电镜是利用成像电磁透镜成像,并一次成像;而扫描电镜的成像则不需要成像透镜,其图像是按一定时间空间顺序逐点形成,并在镜体外显像管上显示。 2)SEM喷金原因:高分子样品多为不导电材料,在入射电子束照射表面易累积电荷,这样会严重影响图像的质量; 3)TEM染色原因:在用透射电镜观察一些超薄的高分子样品...
1.1 TEM TEM利用电子束透射的原理观察样品的内部结构。在TEM中,电子束会穿过样品,形成透射电子图像。透射电子束通过光学透镜系统和投影屏幕,最终被观察者看到。TEM具有非常高的分辨率,能够观察到几个纳米级别的细节。 1.2 SEM SEM则利用电子束的反射和散射原理观察样品的表面特征。在SEM中,电子束从样品的表面散射出来...
答:SEM:可以表征颗粒的尺寸、形状和化学组成。原理:从电子枪阴极发出的直径20(m～30(m的电子束,受到阴阳极之间加速电压的作用,射向镜筒,经过聚光镜及物镜的会聚作用,缩小成直径约几毫微米的电子探针。在物镜上部的扫描线圈的作用下,电子探针在样品表面作光栅状扫描并且激发出多种电子信号。这些电子信号被相应的检测...
SEM和TEM的原理,听起来有点高大上,其实没那么复杂。想象一下,咱们平常生活中总是要看清楚一些细节,对吧?比如说,放大镜能帮我们看清蚂蚁的脚,哈哈,这就是一个小小的比喻。电子显微镜就是用这种理念,把我们看世界的能力放大到极致。SEM,扫描电子显微镜,听起来很复杂,其实它就像是一个超级相机,能把样品的表面拍得...
透射电镜TEM (transmission electron microscope)工作原理: 是以电子束透过样品经过聚焦与放大后所产生的物像, 投射到荧光屏上或照相底片上进行观察。 一、扫描电子显微镜 SEM(scanning electron microscope)的制造依据 扫描电子显微镜的制造是依据电子与物质的相互作用。当一束高能的人射电子轰击物质表面时,被激发的区域...