美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪器采用了独特的测量和分析技术,包括准稳定态光电导(QSSPC)测量方法。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应,表面复合效应等缺陷情况。WCT在大于20%的超高效率太阳能电池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等)的研发和生产过程中是一种被广泛选用的必备检测工具。这种QSSPC测量少子寿命...
WCT-120 是放置在桌面上的硅片寿命测量系统,适用于器件研究和工业过程控制,价格实惠。WCT-120MX适用于测试230 mm的大硅片。 产品概述 WCT-120和WCT-120MX 仪器展示了我们独特的测量和分析技术,包括 Sinton Instruments公司在 1994 年开发的遵从 SEMI 标准的准稳态光电导(QSSPC)寿命测量方法。 WCT-120仪器使用QSS...
美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪器 美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪器采用了的测量和分析技术,包括准稳定态光电导(QSSPC)测量方法。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应,表面复合效应等缺陷情况。WCT在大于20%的超高效率太阳能电池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等)的研发和生产过程中是一种被广泛选用的检...
1、 设备组成以及主要功能少子寿命测试仪WCT-120包括如下部分:1)带有涡电流感应器的样品台,2)带有红外滤光片的程控闪光灯光源系统,3)内置WCT-120软件以及NI采集卡的电脑一套,4)用于信号传输的信号盒,5)程控的电源供应器FPS-300,5)连接各个硬件的连接线等Suns-Voc包括如下部分:1) 放置样品的测量台,2)带有中性...
sinton少子寿命测试仪WCT-120,Suns-Voc,硅片少子寿命测试系统,采用了独特的测量和分析技术,包括准稳定态光电导(QSSPC)测量方法。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应,表面复合效应等缺陷情况。 详细介绍 美国sinton少子寿命测试仪WCT-120,Suns-Voc ...
美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪器，凭借其独树一帜的测量与分析技术，包括创新的准稳态光电导(QSSPC)测量法，能够敏锐捕捉单晶体重金属污染、陷阱效应以及表面复合效应等缺陷迹象。WCT不仅在研究领域备受瞩目，更在生产过程中成为不可或缺的工具。对于研发和生产超高效率太阳能电池（如HIT、MWT、EWT、PREL等）来说...
少子寿命测试仪WCT-120包括如下部分: 1)带有涡电流感应器的样品台,2)带有红外滤光片的程控闪光灯光源系统,3)内置WCT-120软件以及NI采集卡的电脑一套,4)用于信号传输的信号盒,5)程控的电源供应器FPS-300,5)连接各个硬件的连接线等 Suns-Voc包括如下部分: 1) 放置样品的测量台,2)带有中性滤光片的程控闪光灯...
美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪器采用了独特的测量和分析技术,包括类似平稳状态photoconductance (QSSPC)测量方法。可灵敏地反映单晶体重金属污染及陷阱效应表面复合效应等缺陷情况。WCT一个高度被看待的研究和过程工具。QSSPC终身测量也产生含蓄的打开电路电压(对照明)曲线,与最后的I-V曲线是可比较的在一个太阳能...
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WCT-120TS (温度台)仪器展示了我们的WCT-120仪器的独特测量和分析技术,并具有测量硅晶圆在25C至20O℃温度范围内的载流子复合寿命的附加功能。Sinton Instruments开发的准稳态光电导(QSSPC)寿命测量方法以及瞬态光电导衰减技术都可用于通过该工具测量晶圆寿命。