WCT-120 是放置在桌面上的硅片寿命测量系统,适用于器件研究和工业过程控制,价格实惠。WCT-120MX适用于测试230 mm的大硅片。 产品概述 WCT-120和WCT-120MX 仪器展示了我们独特的测量和分析技术,包括 Sinton Instruments公司在 1994 年开发的遵从 SEMI 标准的准稳态光电导(QSSPC)寿命测量方法。 WCT-120仪器使用QSS...
Sinton少子寿命测试仪WCT-120 单晶 多晶硅片性能测试 价格 ￥35.00万 起订量 1台起批 发货地 上海 上海 所属类目 广电通信;接入设备;其他接入设备 产品标签 进口少子寿命测试仪;Sinton;少子寿命;硅片测试;电阻率测试 获取底价 查看电话 在线咨询 上海瞬渺光电技术有限公司 进入店铺 全部商品 少子仪 少子仪...
美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪器 美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪器采用了独特的测量和分析技术,包括准稳定态光电导(QSSPC)测量方法。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应,表面复合效应等缺陷情况。WCT在大于20%的超高效率太阳能电池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等)的研发和生产过程中是一种被广泛选用...
1、 设备组成以及主要功能少子寿命测试仪WCT-120包括如下部分:1)带有涡电流感应器的样品台,2)带有红外滤光片的程控闪光灯光源系统,3)内置WCT-120软件以及NI采集卡的电脑一套,4)用于信号传输的信号盒,5)程控的电源供应器FPS-300,5)连接各个硬件的连接线等Suns-Voc包括如下部分:1) 放置样品的测量台,2)带有中性...
美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪器，凭借其独树一帜的测量与分析技术，包括创新的准稳态光电导(QSSPC)测量法，能够敏锐捕捉单晶体重金属污染、陷阱效应以及表面复合效应等缺陷迹象。WCT不仅在研究领域备受瞩目，更在生产过程中成为不可或缺的工具。对于研发和生产超高效率太阳能电池（如HIT、MWT、EWT、PREL等）来说...
少子寿命测试仪WCT-120&Suns-Voc(WCT-120的标准附属设备)的主要功能 1)量测得到硅片样品在注入浓度下的符合SEMI最新标准PV13-0211的经过校准后的复合少子寿命值即Tau@Δn 2) 量测得到硅片样品的电阻率 Resistivity 3) 量测得到硅片样品的陷阱密度Trap density ...
通用电源电压:100–240 VAC 50/60 Hz;WCT-120+Suns-Voc 技术规格设备功能:硅片的少子寿命测试 规格: 晶体硅硅片、规定以及工艺过程中lifetime测试技术晶体硅太阳能电池少子寿命测试方法少数载流子寿命(Minority carriers life time):主要应用:分布监控和优化制造工艺其它应用:· 检测原始硅片的性能· 测试过程硅片的重...
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WCT-120中文规格
WCT-120PL晶片寿命测量工具采用的是与WCT-120一样独特的测量与分析技术,同时增加了光致发光(PL)检测器用来测量样品的PL寿命及掺杂情况。该系统采用的是准稳态光电导(QSSPC)寿命测量方法及瞬态光电导衰退(PCD)寿命测量方法,同时还补充采用了校准后的PL寿命测量方法。该工具还可以作为标准的WCT-120使用。r r r r...