Sinton少子寿命测试仪-WCT-120MX单晶多晶硅片性能测试 价格 ￥36.00万 起订量 1台起批 货源所属商家已经过真实性核验 发货地 上海 上海 所属类目 广电通信;接入设备;其他接入设备 产品标签 少子寿命测试仪;Sinton;硅片性能测试;电阻率测试;准稳定态光电导;QSSPC 获取底价 查看电话 在线咨询 上海瞬渺光电...
型号 WCT-120MX 美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪器采用了独特的测量和分析技术,包括类似平稳状态photoconductance (QSSPC)测量方法。可灵敏地反映单晶体重金属污染及陷阱效应表面复合效应等缺陷情况。WCT一个高度被看待的研究和过程工具。QSSPC终身测量也产生含蓄的打开电路电压(对照明)曲线,与最后的I-V曲线是可比...
WCT120是放置在桌面上的硅片寿命测量系统,适用于器件研究和工业过程控制,价格实惠。WCT120MX适用于测试230mm的大硅片 WCT120和WCT-120MX仪器展示了我们独特的测量和分析技术,包括 Sinton Instruments公司在1994年开发的遵从SEMI标准的准稳态光电导( QSSPC)寿命测量方法 WCτ-120仪器使用 QSSPC和瞬态光电导衰减技术,可...
规格: WCT-120MX 品牌: Sinton Instrument 加工定制: 是 商品编号(bn): WCT-120MX 分类(cat_id): 少子寿命测试仪 测量原理:: QSSPC(准稳态光电导) 少子寿命测量范围:: 100 ns-10 ms 测试模式:: QSSPC,瞬态,寿命归一化分析 电阻率测量范围:: 3–600 (undoped) Ohms/s 注入范围:: 1013...
规格: WCT-120MX 品牌: Sinton Instrument 加工定制: 是 商品编号(bn): WCT-120MX 分类(cat_id): 少子寿命测试仪 测量原理:: QSSPC(准稳态光电导) 少子寿命测量范围:: 100 ns-10 ms 测试模式:: QSSPC,瞬态,寿命归一化分析 电阻率测量范围:: 3–600 (undoped) Ohms/s 注入范围:: 1013...
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