正确选择透射电镜的不同模式——TEM,HRTEM,HAADF-STEM 检测中心黄工 未知成分分析,配方还原,检测分析,产品研发,产品技术 前言:几乎任何与材料相关的领域都要用到透射电镜,而最常用的三大透射电镜是:普通透射电子显微镜(TEM)、高分辨透射电子显微镜(HRTEM)和扫描透射电子显微镜(STEM)。本期内容介绍三者的殊与同。重…...
确实,普通的TEM只能用来看看外观,很难看到内部结构,如:晶面间距、原子排布等信息。理论上能清楚地看到单个原子。因此HRTEM被用于观察晶体的内部结构,原子排布和许多精细结构(比如位错、孪晶等)。 ③扫描透射电子显微镜(STEM):TEM和HRTEM的光照射范围是面,而STEM是一点一点的扫射,然后再收集。有个不合时宜的比喻:一为...
Gentle Mill 离子精修仪专为最终抛光、精修和改善 FIB 处理后的样品而设计,非常适合要求样品无加工痕迹、无任何损伤的 XTEM、HRTEM 或 STEM 的用户。 通过使用 Gentle Mill 离子精修仪,其配备了专利设计的低能氩离子枪,离子束能量最低可达 100eV,可把非晶层厚度精修到 1nm 以下,由此工作人员可以拨开非晶层的迷雾...
TEM：利用透射电子成像，样品的结构，形貌，同时可以观察倒易空间衍射花样，对于物质结构的解释有直观的优...
Gentle Mill 离子精修仪专为最终抛光、精修和改善 FIB 处理后的样品而设计,非常适合要求样品无加工痕迹、无任何损伤的 XTEM、HRTEM 或 STEM 的用户。 通过使用 Gentle Mill 离子精修仪,其配备了专利设计的低能氩离子枪,离子束能量最低可达 100eV,可把非晶层厚度精修到 1nm 以下,由此工作人员可以拨开非晶层的迷雾...
STEM:scanning & transmission electron microscop 描穿透式电子显微镜 即包含扫描式电子显微镜与穿透式电子显微镜的优点。 HRTEM:high resolution transmission electron microscop 高解析穿透式电子显微镜 比TEM观测尺度更小,可以观测到小于1埃的尺度 (1埃=10-10m) ...
Gentle Mill 离子精修仪专为最终抛光、精修和改善 FIB 处理后的样品而设计,非常适合要求样品无加工痕迹、无任何损伤的 XTEM、HRTEM 或 STEM 的用户。 通过使用 Gentle Mill 离子精修仪,其配备了专利设计的低能氩离子枪,离子束能量最低可达 100eV,可把非晶层厚度精修到 1nm 以下,由此工作人员可以拨开非晶层的迷雾...
Gentle Mill 离子精修仪专为最终抛光、精修和改善 FIB 处理后的样品而设计,非常适合要求样品无加工痕迹、无任何损伤的 XTEM、HRTEM 或 STEM 的用户。 通过使用 Gentle Mill 离子精修仪,其配备了低能氩离子枪,离子束能量低可达 100eV,可把非晶层厚度精修到 1nm 以下,由此工作人员可以拨开非晶层的迷雾,直接获得样品...
SEM测试制样攻略, 视频播放量 1208、弹幕量 0、点赞数 17、投硬币枚数 0、收藏人数 27、转发人数 3, 视频作者 电化学与电催化, 作者简介 王老师,中科院博士,华算科技全职电化学专家,本硕博15篇SCI,12年电化学科研经验!QQ群:831572707,相关视频:TEM、HRTEM、STEM——
请问SEM,XRD,HRTEM,STEM,XPS,EDS的功能及区别