HRTEM 透射和扫描透射电子显微镜 (S/TEM) 是表征纳米结构的重要工具,提供一系列不同的成像模式,并能获得高灵敏度的元素组成和电子结构的信息。随着材料研究逐渐开始将重点放在对纳米级材料功能和行为进行优化上,因此在该分辨率下的准确信息变得越来越重要。高分辨率 TEM (HRTEM) 和 STEM (HRSTEM) 能够获得最详细的...
从成像角度来分析，其与前面两者最大的区别是：TEM和HRTEM的光照射范围是面，而STEM是一点一点的扫射，然后再收集。有个不合时宜的比喻：一为手电筒光源，一为激光器光源。很明显，激光器更精细地刻画了其结构。前文提到STEM还有明场与暗场。STEM常常和HAADF连用。HAADF属于高角度环状暗场探测器。示意图见图7。图7...
STEM(HAADF - STEM):从成像角度来分析,其与前面两者最大的区别是:TEM和HRTEM的光照射范围是面,而STEM是一点一点的扫射,然后再收集。一个不恰当的比喻是:一个是手电筒光源,一个是激光器光源。显然激光器对结构的表征更加细致。前面已经提及STEM也有明场和暗场之分。STEM常常和HAADF连用。HAADF是一种高角环状暗场探...
STEM(HAADF - STEM):从成像角度来分析,其与前面两者最大的区别是:TEM和HRTEM的光照射范围是面,而STEM是一点一点的扫射,然后再收集。一个不恰当的比喻是:一个是手电筒光源,一个是激光器光源。显然激光器对结构的表征更加细致。前面已经提及STEM也有明场和暗场之分。STEM常常和HAADF连用。HAADF是一种高角环状暗场探...
几乎任何与材料相关的领域都要用到透射电镜,而最常用的三大透射电镜是:普通透射电子显微镜(TEM)、高分辨透射电子显微镜(HRTEM)和扫描透射电子显微镜(STEM)。本期内容介绍三者的殊与同。重点解析在科研中如何适时的运用这三者? TEM: 这里的TEM专指普通分辨率TEM。其主要用来观察材料的微观形貌和结构,比如催化剂粉末的轮...
STEM(HAADF - STEM):从成像角度来分析,其与前面两者最大的区别是:TEM和HRTEM的光照射范围是面,而STEM是一点一点的扫射,然后再收集。一个不恰当的比喻是:一个是手电筒光源,一个是激光器光源。显然激光器对结构的表征更加细致。前面已经提及STEM也有明场和暗场之分。STEM常常和HAADF连用。HAADF是一种高角环状暗场探...
STEM(HAADF - STEM):从成像角度来分析,其与前面两者最大的区别是:TEM和HRTEM的光照射范围是面,而STEM是一点一点的扫射,然后再收集。一个不恰当的比喻是:一个是手电筒光源,一个是激光器光源。显然激光器对结构的表征更加细致。前面已经提及STEM也有明场和暗场之分。STEM常常和HAADF连用。HAADF是一种高角环状暗场探...
上期内容介绍了 TEM、HRTEM、STEM 三者的基本特性以及三者的殊与同。内容发出之后,有些朋友表示 TEM、STEM 其实可以集合于同一台仪器,只是模式不同而已。确实如此,很多透射电镜可以兼具 TEM 和 STEM 两种模式。在此谢谢各位的补充。 本期精彩: 本期将结合具体实例,分析如何综合利用三种透射电镜,实现对材料结构的深入...
在较高放大倍数下(b)能够看到样品边缘的衬底远低于中心区域。文中将边缘浅灰色区域归属为碳层。HRTEM进一步确证了这一结构(c,d),同时可以确定碳层间距为0.36 - 0.37 nm(e,f)。图g-j为HAADF-STEM表征图。(个人觉得这里的STEM表征的用处不大)。最终总结这些表征,作者推测并...
在较高放大倍数下(b)能够看到样品边缘的衬底远低于中心区域。文中将边缘浅灰色区域归属为碳层。HRTEM进一步确证了这一结构(c,d),同时可以确定碳层间距为0.36 - 0.37 nm(e,f)。图g-j为HAADF-STEM表征图。(个人觉得这里的STEM表征的用处不大)。最终总结这些表征,作者推测并模拟催化剂如图6k所示。