9.透射电子显微技术TEM 分析原理：高能电子束穿透试样时发生散射、吸收、干涉和衍射，使得在相平面形成衬...
通过高分辨TEM和EDS解析了FinFET结构，通过Gate的TEM照片可知Gate的宽度约为20nm，高度度约为80nm，由Ti...
为您介绍电子显微镜(SEM/TEM/STEM)(场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)、扫描电子显微镜(SEM)、台式显微镜、透射电子显微镜(TEM/STEM))。
TEM，即透射电镜，如同X光透视，揭示内部的秘密。它的电压远超SEM，能够穿透样品，揭示出隐藏在表面之下的微观结构，让你洞悉物体的内在世界。然而，如果我们把TEM看作是全视角的观察者，那么STEM，扫描透射电镜，更像是TEM的一个分支。虽然功能上与TEM有所交叠，但STEM更像是TEM的精简版，专注于局部区...
在SEM中的30kV电压条件下,使用TEM-EDS定量分析常用的Cliff -Lorimer方法即k因子法,结果见下表。TEM-EDS结果标记为橙色,相比前述结果,定量准确性有了明显提高。 利用TEM和SEM-STEM对薄样品进行EDS分析时,可获得高空间分辨率的结果。对于TEM-EDS分析,仅利用单个标样(已知厚度的Si3N4薄样品标样),即可获得待测样品的...
STEM（扫描透射电子显微镜）结合了SEM和TEM的优点，能够在样品表面成像的同时观察其内部结构。STEM操作简便，样品制备要求较低，适用于材料科学、生命科学、地球科学等领域的研究。五类显微镜各有优势和局限性，选择合适的显微镜取决于研究目标、样品性质以及实验条件。在现代科学研究中，这些显微镜被广泛应用，...
The method allows their study in high resolution TEM, SEM and STEM. The use of cytoskeletons is also a valuable model system for the evaluation of metal coating techniques, allowing studies of deposited metal on fine filamentous structures of varying thicknesses.Pt and W were sputtered at 1 ...
TEM-ED-SEM-STEM 四种成像模式B ench-top TEM and SEM 1世界最小的 透射电子显微镜不仅仅如此… Delong America公司推出的新一代电子显微镜LVEM5,采用革命性新技术,尺寸较传统电镜缩小了90%,是世界上最小的透射电镜。同时集成了扫描电镜功能,是世界上第一台多功能电子显微镜。 •体积与光学显微镜相仿,价格便宜,...
图1 光镜、扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）所用波长大小的电磁波谱 因此，SEM和TEM采用电子束来探测材料，从而获得比光学显微镜分辨率更高的图像。例如，加速电压为100 kV 的电子束（λ =0.000004 μm）可以达到0.24 nm 的分辨率。分辨率的实际极限取决于透镜的像差和缺陷。现代FE-SEM通常在 20-...
TEM-, SEM- and STEM-studies of sputter-coated cytoskeletons A technique for sputter coating of cytoskeletons from detergent extracted cells is described. The method allows their study in high resolution TEM, SEM and... M Lindroth,PB Bell,BA Fredriksson - 《Scanning》 被引量: 6发表: 2011年...