简单地说，4200A-SCS 可以完全自定义且全面升级，您可以对半导体设备、新材料、有源/无源组件、晶片级可靠性、故障分析、电化学或几乎任何类型的样本执行电气检定和评估。特点 · NBTI/PBTI 测试 · 随机电报噪声 · 非易失内存设备 · 稳压器应用测试 带分析探测器和低温控制器的集成解决方案。4200A-SCS 参数分...
1.检测：首先对仪器进行初步检测，确定故障类型和具体位置。使用专业仪器（如Fluke5700A校准源）对仪器指标进行测试。打开机壳观察是否有明显烧坏痕迹。静态测试和加电测试，检查各电源电压和功能模块电路是否正常。2.报价与确认：根据检测结果向用户提供维修报价，经用户同意后开始维修。3.维修：更换损坏的部件或组件，如...
4200-SCS 参数分析仪详细介绍:适用于材料和设备电气检定的全面解决方案4200-SCS 是一个模块化、完全集成的参数分析仪,用于执行材料、半导体器件和流程的电气检定。从基本的 I-V 和 C-V 测量扫描到先进的超快脉冲…
型号 SCS 4200 颜色 灰色 品牌 Keysight是德 Agilent安捷伦 价格说明 价格:商品在爱采购的展示标价,具体的成交价格可能因商品参加活动等情况发生变化,也可能随着购买数量不同或所选规格不同而发生变化,如用户与商家线下达成协议,以线下协议的结算价格为准,如用户在爱采购上完成线上购买,则最终以订单结算页价格为准...
4200-ACS电压斜坡数据分析 4200-SCS具有强大的高级数据分析能力,可以很容易地提取氧化物击穿参数。通过单击“definition”命令按钮,从ITM定义选项卡激活此分析功能(参见图3)。公式对话框输入屏幕(未显示)包含许多用于数据分析和提取的功能。公式从电压斜坡测量的栅电流(IG)和栅电压(VG)数据中自动提取击穿电流(IBD)、击...
4200A-SCS是一款模块化、完全集成的参数分析仪,具有晶圆级可靠性测试功能。该系统允许对半导体器件和测试结构进行直流I-V,脉冲I-V和C-V表征,先进的数字扫描参数分析仪结合了亚微米的测试速度和精度。4200A-SCS可以提供多达9个插槽,用于支持源测量单元 (SMU),电容电压单元 (CVU) 和脉冲测量单元 (PMU), 可以通过...
4200A-SCS 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器，包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低温控制器。特点 “点击”测试定序“手动”探测器模式测试探测器功能 假探测器模式无需移除命令即可实现调试 降低成本并保护您的投资 ...
Keithley 4200-SCS 半导体特性分析系统可执行实验室级直流和脉冲器件特性分析、实时绘图和分析,具有高精度和亚飞米至安培分辨率。Keithley 4200-SCS 提供全集成特性分析系统中最先进的功能,包括一台完整的嵌入式 PC,配有 Windows 操作系统和大容量存储器。其自文档化、点击式界面可加快和简化数据采集过程,因此用户可以更...
4200A-SCS半导体参数分析仪基础入门操作教程共计2条视频,包括:系统配置、线缆介绍、基础入门操作教程等,UP主更多精彩视频,请关注UP账号。