简单地说，4200A-SCS 可以完全自定义且全面升级，您可以对半导体设备、新材料、有源/无源组件、晶片级可靠性、故障分析、电化学或几乎任何类型的样本执行电气检定和评估。特点 · NBTI/PBTI 测试 · 随机电报噪声 · 非易失内存设备 · 稳压器应用测试 带分析探测器和低温控制器的集成解决方案。4200A-SCS 参数分...
1.检测：首先对仪器进行初步检测，确定故障类型和具体位置。使用专业仪器（如Fluke5700A校准源）对仪器指标进行测试。打开机壳观察是否有明显烧坏痕迹。静态测试和加电测试，检查各电源电压和功能模块电路是否正常。2.报价与确认：根据检测结果向用户提供维修报价，经用户同意后开始维修。3.维修：更换损坏的部件或组件，如...
型号 4200-SCS Keithley4200-SCS 深圳中瑞仪科电子有限公司 长期 租售+维修+回收 二手仪器仪表 地址:深圳市宝安区沙井南环路68号创盈大厦 回收: 邓(+135*7087*3835-) 刘(+150*1943*5923-) 商品型号:4200-SCS 商品价格:面议或电议 美国吉时利KEITHLEY 4200-SCS参数分析仪4200-SCS研究应用领域: 半导体材料和器...
4200-SMU,4200-SMU型4200-SCS中等功率源-测量单元(100mA~100fA,200V~1uV,2W) 4210-CVU,4210-CVU型1kHz~10MHz电容电压测量单元 4210-SMU,4210-SMU型4200-SCS高功率源-测量单元(1A~100fA,200V~1uV,20W) 4200-PA,4200-PA型4200-SMU和4210-SMU远程前置放大器选件 4205-PG2型双通道脉冲发生器 4200-SCP2...
4200-SCS 参数分析仪详细介绍:适用于材料和设备电气检定的全面解决方案4200-SCS 是一个模块化、完全集成的参数分析仪,用于执行材料、半导体器件和流程的电气检定。从基本的 I-V 和 C-V 测量扫描到先进的超快脉冲…
4200SCS型半导体特性分析系统的特征主要包括以下几点：直观的操作环境：系统集成了Windows操作环境，提供直观、点击式的用户界面，为用户带来一流的测试体验。高精度的测试能力：独特的远端前置放大器将SMU的分辨率扩展至0.1fA，使用户能够进行更高精度的半导体测试。先进的测试功能：新型脉冲与脉冲式IV功能，...
4200-SCS半导体特性分析系统采用了模块化、可配置、可升级的架构。这使得它能够准确满足当前的测量需求,也可以模块扩展以满足后续的需求。 支持多达9个精密直流源测量单元,能够提供测量0.1fA到1A的电流或者1uV-210V的电压; 利用4210-CVU?-V)模块可以方便的在1KHz-10MHz测试频率下进行交流阻抗测试,可以测量的电容...
4200-SCS型半导体特性分析系统配备可选的4200-PA型远程前置放大器时,可提供非常卓越的小电流测量能力,分辨率达1E–16A。成功测量小电流不仅依赖于使用非常灵敏的安培计,例如4200-SCS型,而且还取决于系统的交互测试环境(KITE)软件进行正确设置、使用低噪声夹具和电缆连接、留有足够的建立时间,以及采用能够防止不希望的电...
1.测量通道:Keithley 4200-SCS具有多达8个独立的测量通道,每个通道均可配置为电流测量、电压测量或阻值测量。 2.测量范围:该设备的电流测量范围从fA级到mA级,电压测量范围从μV级到kV级,阻值测量范围从mΩ到GΩ。 3.精度:Keithley 4200-SCS的测量精度非常高,电流测量精度可达到0.05%+0.01 fA,电压测量精度可达到...
4200-SCS 可动电荷、金属-半导体功函数、德拜长度、体电势等。 标准C-V扫描:普通MOSFET,二极管和电容器; MOScap:测量MOS电容器上的C-V,提取参数包括氧化层电容,氧化层厚度,掺杂浓度,耗尽深度, 德拜长度,平带电容,平带电压,体电势,阈值电压,金属半导体功函数,有效氧化层电荷; ...