简单地说，4200A-SCS 可以完全自定义且全面升级，您可以对半导体设备、新材料、有源/无源组件、晶片级可靠性、故障分析、电化学或几乎任何类型的样本执行电气检定和评估。特点 · NBTI/PBTI 测试 · 随机电报噪声 · 非易失内存设备 · 稳压器应用测试 带分析探测器和低温控制器的集成解决方案。4200A-SCS 参数分...
BJT:在端-端之间测量电容(OV偏置情况下),Cbe,Cbc,Cec;接线电容:测量晶圆上小的互相接线之间的电容; 4200-SCS 参数分析仪 纳米线:在两端的纳米线器件上进行C-V扫描;闪存:在一个典型的栅极悬浮闪存器件上进行C-V测量。 碳纳米管、生物芯片/器件、碳纳米管FET、纳米线、分子线、分子晶体管、多管脚纳米格 超快...
4200-SCS半导体特性分析系统采用了模块化、可配置、可升级的架构。这使得它能够准确满足当前的测量需求,也可以模块扩展以满足后续的需求。 支持多达9个精密直流源测量单元,能够提供测量0.1fA到1A的电流或者1uV-210V的电压; 利用4210-CVU?-V)模块可以方便的在1KHz-10MHz测试频率下进行交流阻抗测试,可以测量的电容...
吉时利(Keithley)4200-SCS半导体特性分析系统主要特点及优点直观的、点击式Windows操作环境独特的远端前置放大器,将SMU的分辨率扩展至0.1fA用于高级半导体测试的新型脉 冲与脉冲式I-V功能集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储独特 的浏览器...
4200-SCS半导体特性分析系统是用于器件、材料和半导体工艺参数分析的完整解决方案。这种先进的参数分析仪具有无可比拟的测量灵敏度和精度,同时继承了嵌入式Windows操作系统和吉时利交互式测试环境,为半导体科研及产业用户进行半导体器件特性分析提供了直观而高级的功能
4200-SCS 参数分析仪详细介绍:适用于材料和设备电气检定的全面解决方案4200-SCS 是一个模块化、完全集成的参数分析仪,用于执行材料、半导体器件和流程的电气检定。从基本的 I-V 和 C-V 测量扫描到先进的超快脉冲…
吉时利4200-SCS参数分析仪广泛应用于材料研究、光电子学、功率器件、半导体器件制造、电子元件故障分析以及研究和教育等领域。它能够帮助研究人员和工程师准确测量和分析不同材料和器件的电学特性，促进新材料的开发和现有材料的改进，提高功率器件的性能和可靠性，以及支持电子元件的故障分析和修复。一、故障总结 吉时利参数...
1.材料研究 -KEITHLEY吉时利4200-SCS半导体特性分析系统在材料研究领域发挥着重要作用。它可以帮助研究人员对不同材料的电学特性进行准确测量和分析。无论是对新材料的开发还是对现有材料的改进，这个系统都能提供准确的数据支持。 2.光电子学 -在光电子学领域，KEITHLEY吉时利4200-SCS半导体特性分析系统可用于...
Keithley 4200-SCS(半导体表征系统)是用于半导体器件和材料的 I-V 表征的集成系统。根据配置,该仪器具有两个标准 SMU(分辨率为 1pA)和两个预放大 SMU(分辨率为 100fA)。当与地面单元 (GRNU) 结合使用时,这提供了执行多达五个终端设备测量的能力。4200-SCS 是执行晶体管表征和参数测量的理想仪器。它还可用于二...