型号 4200A-SCS 价格说明 价格:商品在爱采购的展示标价,具体的成交价格可能因商品参加活动等情况发生变化,也可能随着购买数量不同或所选规格不同而发生变化,如用户与商家线下达成协议,以线下协议的结算价格为准,如用户在爱采购上完成线上购买,则最终以订单结算页价格为准。 抢购价:商品参与营销活动的活动价格,也...
4200A-SCS 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器,包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低温控制器。 特点 “点击”测试定序 “手动”探测器模式测试探测器功能 假探测器模式无需移除命令即可实现调试 ...
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使用4200A-SCS的源测量单元(SMU)便可完成此任务,它既可作为电压源,又可测量电流。4200A-SCS的SMU具有四象限工作能力,能够以施加电压的函数吸收电池电流,并提供四种型号:4200-SMU/4201-SMU(最大100mA)和4210-SMU/4211-SMU(最大1A)。若电池电流超出以上范围,可通过减小电池面积或使用吉时利SourceMeter®仪器获得...
4200-PA:一個前置放大器 8101-PIV:具有取樣裝置的測試治具 索取報價 檢視產品規格表 4200A-SCS-PKB 高解析度 IV & CV 4200A-SCS:參數分析儀主機 4201-SMU:兩個用於高電容設定的中功率 SMU 4200-PA:一個前置放大器 4215-CVU:一台高解析度多重頻率 C-V 單元 8101-PIV:一台具有取樣裝置的測試治具 索取報...
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推进大胆发现从未如此容易。4200A-SCS 参数分析仪从设置到运行检定测试的时间减少高达 50％，从而实现无与伦比的测量和分析能力。此外，嵌入式测量专业知识提供无与伦比的测试指导，并让您对最终结果充满信息。特点 用于 DC IV、CV 和脉冲 IV 测量类型的高级测量硬件立即使用 Clarius 软件中所含的数百种用户可修改...
4200A-SCS参数分析仪可简化这些电气测量过程,集成直流和快速I-V、C-V测量功能,具备控制软件、图形绘制和数学分析能力。它适用于多种测量,包括直流/脉冲I-V、C-V、C-f、驱动级电容分析(DLCP)、四探针电阻率和霍尔电压测量。本应用说明描述了如何使用4200A-SCS对光伏电池进行这些电测量。为了简化光伏材料和电池的...
使用4200A-SCS半导体表征系统上的IMT可以很容易地确定最坏情况下的应力条件。 器件连接 在单个晶体管上执行CHC测试很容易。然而,每个CHC测试通常需要很长时间才能完成,所以希望有许多dut并行施加压力,然后在应力之间按顺序进行表征,以节省时间。为了实现这一点,需要一个开关矩阵来处理并行应力和应力之间的顺序测量。图3...
使用4200A-SCS半导体表征系统上的IMT可以很容易地确定最坏情况下的应力条件。 器件连接 在单个晶体管上执行CHC测试很容易。然而,每个CHC测试通常需要很长时间才能完成,所以希望有许多dut并行施加压力,然后在应力之间按顺序进行表征,以节省时间。为了实现这一点,需要一个开关矩阵来处理并行应力和应力之间的顺序测量。图3...