型号 4200A-SCS 价格说明 价格:商品在爱采购的展示标价,具体的成交价格可能因商品参加活动等情况发生变化,也可能随着购买数量不同或所选规格不同而发生变化,如用户与商家线下达成协议,以线下协议的结算价格为准,如用户在爱采购上完成线上购买,则最终以订单结算页价格为准。 抢购价:商品参与营销活动的活动价格,也...
4200-SCS半导体特性分析系统是用于器件、材料和半导体工艺参数分析的完整解决方案。这种先进的参数分析仪具有无可比拟的测量灵敏度和精度,同时继承了嵌入式Windows操作系统和吉时利交互式测试环境,为半导体科研及产业用户进行半导体器件特性分析提供了直观而高级的功能
使用4200A-SCS的源测量单元(SMU)便可完成此任务,它既可作为电压源,又可测量电流。4200A-SCS的SMU具有四象限工作能力,能够以施加电压的函数吸收电池电流,并提供四种型号:4200-SMU/4201-SMU(最大100mA)和4210-SMU/4211-SMU(最大1A)。若电池电流超出以上范围,可通过减小电池面积或使用吉时利SourceMeter®仪器获得...
为了简化光伏材料和电池的测试,4200A-SCS配有对应的测试和一个可以轻松地进行多项常用相关测量的项目,包括I-V、电容和电阻率测量,还包括提取最大功率、短路电流、缺陷密度等公共参数的公式。 直流电流/电压(I-V)测量 太阳能电池的多项参数可通过电流-电压 (I-V) 测量获得。使用4200A-SCS的源测量单元 (SMU) ...
推进大胆发现从未如此容易。4200A-SCS 参数分析仪从设置到运行检定测试的时间减少高达 50％，从而实现无与伦比的测量和分析能力。此外，嵌入式测量专业知识提供无与伦比的测试指导，并让您对最终结果充满信息。特点 用于 DC IV、CV 和脉冲 IV 测量类型的高级测量硬件立即使用 Clarius 软件中所含的数百种用户可修改...
(图片源自4200-SCS半导体参数分析仪界面) 如果项目中定义了多个DUT,则可以使器件压力设置窗口中的“上一个器件”和“下一个器件”按钮在器件之间进行切换(图6)。“复制”和“粘贴”按钮可以用于将压力设置从一个器件复制到另一个器件中,而不需要在所有输入字段中重新输入所有信息。由于多个器件在不同的应力配置中并...
图1显示了使用4200A-SCS连接太阳能电池进行I-V测量的配置。太阳能电池通过四线连接测试,其中一对引线 (Force) 提供电压,另一对引线 (Sense) 测量压降。这种配置可消除引线电阻的影响,确保测量的准确性,同时Sense端引线能补偿电压偏差,确保电池电压与设定值一致。
4200A-SCS 參數分析儀支援許多手動和半自動晶片探棒和低溫控制器,包括 MPI Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。 特性 「點按」測試順序 「手動」探棒模式測試探棒功能 假探棒模式可啟用除錯,而不會移除指令 減少成本並保護投資 Keithley Car...
使用4200A-SCS半导体表征系统上的IMT可以很容易地确定最坏情况下的应力条件。 器件连接 在单个晶体管上执行CHC测试很容易。然而,每个CHC测试通常需要很长时间才能完成,所以希望有许多dut并行施加压力,然后在应力之间按顺序进行表征,以节省时间。为了实现这一点,需要一个开关矩阵来处理并行应力和应力之间的顺序测量。图3...
4200A-SCS是业内性能领先电学特性参数分析仪，提供同步电流电压曲线测试 (I-V曲线测试)、电容-电压曲线测试 (C-V曲线测试) 和超快脉冲 I-V曲线测量。在利用4200A-SCS参数分析仪加速材料科学与半导体技术进步的征途中，该设备展现出的不仅仅是其卓越的技术规格，更在于其如何深度融入并优化研发流程。工程师们通过...