4200A-SCS是一款模块化、完全集成的参数分析仪,具有晶圆级可靠性测试功能。该系统允许对半导体器件和测试结构进行直流I-V,脉冲I-V和C-V表征,先进的数字扫描参数分析仪结合了亚微米的测试速度和精度。4200A-SCS可以提供多达9个插槽,用于支持源测量单元 (SMU),电容电压单元 (CVU) 和脉冲测量单元 (PMU), 可以通过...
4215-CVU的AC驱动电压范围是10mV~1 Vr ms,4210-CVU的AC驱动电压范围是10mV~100mVrms。 图1.4200A-SCS参数分析仪 CVUs采用独特的 电路 设计,通过Clarius软件控制,支持多种特性和诊断工具,确保测量结果的准确度达到最高。CVU拥有多种内置工具,如实时测量模式、开路、短路补偿、参数提取生成器、滤波、定时控制,并能...
Keithley 4200-SCS 半导体特性分析系统可执行实验室级直流和脉冲器件特性分析、实时绘图和分析,具有高精度和亚飞米至安培分辨率。Keithley 4200-SCS 提供全集成特性分析系统中最先进的功能,包括一台完整的嵌入式 PC,配有 Windows 操作系统和大容量存储器。其自文档化、点击式界面可加快和简化数据采集过程,因此用户可以更...
4200A-SCS和4225-PMU超快脉冲I-V的功能 4200A-SCS是一款模块化、完全集成的参数分析仪,具有晶圆级可靠性测试功能。该系统允许对半导体器件和测试结构进行直流I-V,脉冲I-V和C-V表征,先进的数字扫描参数分析仪结合了亚微米的测试速度和精度。4200A-SCS可以提供多达9个插槽,用于支持源测量单元 (SMU),电容电压单元...
4215-CVU和4210-CVU都是适用于4200A-SCS参数分析仪的多频(1 kHz ~ 10 MHz) AC阻抗测量模块( 参见图1),让用户能够轻松进行C-V 测量。这两种CVU 之间的差异在于测试频率数量和AC驱动电压。4215-CVU拥有10,000个不同频率,分辨率为1 kHz;4210-CVU拥有37个不同频率。4215-CVU的AC驱动电压范围是10 mV ~ 1 ...
图1.4200A-SCS参数分析仪 CVUs采用独特的 电路 设计,通过Clarius软件控制,支持多种特性和诊断工具,确保测量结果的准确度达到最高。CVU拥有多种内置工具,如实时测量模式、开路、短路补偿、参数提取生成器、滤波、定时控制,并能够在软件中切换AC 电流 表端子。除外,它还采用适当的线缆和C-V测量技术,用户可以进行高度灵...
4200A-SCS和4225-PMU超快脉冲I-V的功能 4200A-SCS是一款模块化、完全集成的参数分析仪,具有晶圆级可靠性测试功能。该系统允许对半导体器件和测试结构进行直流I-V,脉冲I-V和C-V表征,先进的数字扫描参数分析仪结合了亚微米的测试速度和精度。4200A-SCS可以提供多达9个插槽,用于支持源测量单元 (SMU),电容电压单元...
使用4200A-SCS参数分析仪测量1/f电流噪声 作者:泰克科技 电子器件本身就有各种不同的噪声源,包括热噪声、散粒噪声、白(宽带)噪声和1/f (闪烁效应)噪声。1/f 噪声是低频电子噪声,其中电流 (ISD) 或功率 (PSD) 频谱密度与频率成反比。许多元器件类型都会有 1/f 噪声,包括半导体器件、某些类型的电阻器、石墨...
4200A-SCS是一种可以量身定制、全面集成 (420●V差分) 的参数分析仪,可以同步查看电流电压(I-V)、电容电压(C-V) ●●选配CVIV多功能开关,在I-V测量和C-V测量之间简 和超快速脉冲式I-V特性。作为性能最高的参数分析仪, 便切换 4200A-SCS加快了半导体、材料和工艺开发速度。 脉冲式 I-V 超快速脉冲测量...
使用 4200A-SCS参数分析仪（参数测试仪）加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能领先电学特性参数分析仪，提供同步电流电压曲线测试 (I-V曲线测试)、电容-电压曲线测试 (C-V曲线测试) 和超快脉冲 I-V曲线测量。参数查看，快速清晰。推进大胆发现从未...