扫描链(Scan Chain)是一种常用的数字集成电路(IC)测试技术,属于设计可测试性(Design for Testability, DFT)的范畴。扫描链技术是为了简化数字逻辑电路的测试而引入的,它可以让测试人员更容易地访问和控制芯片内部的触发器(Flip-Flops)。 在数字逻辑电路中,触发器(Flip-Flops)是用于存储和传递状态信息的基本元件。在...
DFT 第一步是做 scan chain,首先将电路中的普通 DFF 换成 scan DFF: scan DFF 是在原DFF 的输入端增加了一个 MUX,于是多了几个 pin :scan_in,scan_enable,scan_out 换完之后将所有的 scan DFF 首尾依次串接起来,就构成了一条 scan chain : 当SE 信号(即 scan enable )有效时,电路进入scan 状态,此...
scan chain的基本原理是将设计中所有触发器连成一条链,用统一的scan clk驱动,这样可以将预先设计好的scan pattern送入芯片中,然后开启capture使能,这样每个触发器Q端输出传入它们所驱动的组合电路,scan chain中的下一级触发器D端就会捕获这个组合电路的输出,然后capture失效,这组向量与工具预先计算好的预期相比较,以此...
扫描链（Scan Chain）是一种数字集成电路（IC）测试技术，属于设计可测试性（Design for Testability, DFT）范畴。目的是简化数字逻辑电路测试，让测试人员容易访问和控制芯片内部触发器（Flip-Flops）。在复杂电路中，成千上万个触发器深入嵌套，直接测试状态困难。扫描链通过连接触发器形成可访问链解决此问...
实际上扫描链的配置主要包括test config 以及 scan config,配置完后综合会将扫描网络电路生成在网表中,一般来说扫描链不止一条。 压缩逻辑就是扫描链的最后一个扫描单元DFF/Q端到Scan out Pin的data path,测试pin要尽可能少,压缩可以到几百倍。 压缩分为空间压缩和时间压缩,时间压缩(MISR)就是增加拍数,进而增...
1.scan chain是由一个个scan cell串起来的多位的移位寄存器链 一个scan cell 扫描单元就是指1bitscan cell,因此一个9bit的multibit中,需要9个cycle才能将值shift完毕,因为是9个寄存器串在一条链上 以最常用的scan cell类型muxed-D scan cell举例:
接上回《论DFT | 一文读懂 ScanDEF 相关的一切》,通常,Scan chain 在综合阶段插入,如果插scan chain 时没有考虑物理信息,或者看到的物理信息不准确,或者跟P&R 工具的correlation 不好,那在P&R 阶段可能会看到距离特别远的寄存器被连到了同一条chain 上,这会浪费很多绕线资源,如果设计本来就congestion 敏感,则会...
扫描链是数字电路设计中用于提升测试可测性的关键技术。其主要特点和作用如下：定义：扫描链是设计可测试性的一部分，它将数字电路中的触发器串联起来，形成一个或多个测试通道。工作原理：在测试模式下，扫描链将触发器串联成一个长序列，测试数据逐一串入这个链条，经过时钟周期后，触发器的新状态串出...
加入Scan-Chain 的標準流程: 流程圖: --- Step 1: Scan Ready Synopsys --- 在讀入使用者的設計電路後, 下 compile -scan 指令: 程式會幫我們把電路中, 所有的 register 都置換成 Scan Flip Flop. Step 2: Set ATE Configuration ---
Scan Chain(扫描链测试)作为数字集成电路测试的重要方法之一,可以有效的筛选出坏片,提高产品质量。不同常规性的从测试,scan test测试触角伸入到芯片的任何角落,测试目标为电路中的标准单元,包括组合及时序逻辑。 扫描链测试可以很简单 作为结构性测试的主要手段(structural test),DFT工程师需要注意的是电路的可测性(...