INCH-POUNDThe documentation and process conversionmeasures necessary to comply with this revisionshall be completed by 20 June 2007MIL-STD-750E20 November 2006PERS EDING28 FEBRUARY 1995DEPARTMENT OF DEFENSETEST METHOD STANDARDTEST METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICES岗5SDd[ST7A一多也FSC 5961AMSC N/ASourc...
本公司生产销售高温老炼系统 老炼系统,提供高温老炼系统专业参数,高温老炼系统价格,市场行情,优质商品批发,供应厂家等信息.高温老炼系统 高温老炼系统 品牌泰络TELO|产地广东|价格9999.00元|型号TL-HW02|电压检测范围0-1500V|试验电源1-1500V 四组|操作系统WIN10/11|测试系
INCH–POUND MIL–STD–750–2 3 January 2012 SUPERSEDING MIL–STD–750E (IN PART) 20 November 2006 (see 6.4) DEPARTMENT OF DEFENSE TEST METHOD STANDARD MECHANICAL TEST METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICES PART 2: TEST METHODS 2001 THROUGH 2999 AMSC N/A FSC 5961 The documentation and process co...
方法2006是MIL-STD-750标准中的一种测试方法,用于评估电子元器件在恒定加速度条件下的可靠性和性能。这个方法主要用于对电子元器件进行加速寿命测试,在测试过程中施加恒定的加速度以模拟实际环境中的振动应力。 恒定加速度方法的目标是通过在设备上施加特定大小和方向的恒定加速度,来模拟不同应力环境下的工作条件,以检...
INCH-POUND MIL−STD−750−1B 15 August 2022 SUPERSEDING MIL−STD−750−1A W/CHANGE 4 15 April 2021 DEPARTMENT OF DEFENSE TEST METHOD STANDARD ENVIRONMENTAL TEST METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICES PART 1: TEST METHODS 1000 THROUGH 1999 The documentation and process conversion measured ...
MIL-STD-750D METHOD 1051.5 TEMPERATURE CYCLING (AIR TO AIR)1. Purpose. This test is conducted to determine the resistance of a part to extremes of high and low temperatures, and to the effect of alternate exposures to these extremes.1.1 Terms and definitions.1.1.1 Load. The ...
1 目的 本测试方法目的是确定场效应晶体管或 IGBT 在规定条件下的击穿电压是否大于规定的最低限值。对于IGBT,需将MOSFET的漏极和源极替换成集电极和发射极,即D=C,S=E。 2 测试电路 见图3401-1。 注:电流表应在…
发货地 广东广州 商品类型 电子元器件 、 实验器材/测试器材/开发工具 、 电子实验/科学实验器材 商品关键词 GJB128、 MIL、 STD、 750、 封装形式的分立器件、 电容器、 二极管、 三极管 商品图片 商品参数 品牌: 泰络TELO 封装: 封装 试验电源: 1-1500V 四组 电压检测范围: 0-1500V 测...
MIL-STD-750-2A(5) 下载积分: 3000 内容提示: AMSC N/A FSC 5961 INCH-POUND MIL−STD−750−2A w/CHANGE 5 4 March 2021 SUPERSEDING MIL−STD−750−2A w/CHANGE 4 29 February 2020 DEPARTMENT OF DEFENSE TEST METHOD STANDARD MECHANICAL TEST METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICES PART 2:...
MIL-STD-750D 2000Series Mechanicalcharacteristicstests MIL-STD-750D METHOD2005.2 AXIALLEADTENSILETEST 1.Purpose.Thepurposeofthistestmethodistoestablishthecapabilityofaxialleadglassbodydiodestobefreeofintermittentsor openswhenmeasuredintheforwardmodeunderconditionsoftensilestressandcontrolledtemperature.Thistestmaybedes...