MIL-STD-750D 28 FEBRUARY 1995 SUPERSEDING MIL-STD-750C 23 FEBRUARY 1983DEPARTMENT OF DEFENSETEST METHOD STANDARDSEMICONDUCTOR DEVICESAMSC N/A FSC 5961DISTRIBUTION STATEMENT A. Approved for public release; distribution is unlimited.INCH - POUNDNOTE: The cover page of this standardhas been changed...
MIL-STD-750D METHOD 1051.5 TEMPERATURE CYCLING (AIR TO AIR)1. Purpose. This test is conducted to determine the resistance of a part to extremes of high and low temperatures, and to the effect of alternate exposures to these extremes.1.1 Terms and definitions.1.1.1 Load. The ...
2.THEFOLLOWINGTESTMETHODSOFMIL-STD-750DHAVEBEENREVISEDANDSUPERSEDETHETEST METHODLISTED: METHODDATESUPERSEDEDMETHODDATE 1018.130April2001101828February1995 1071.730April20011071.618May1995 2069.230April20012069.123February1996 2071.530April20012071.428February1995
MIL MIL-STD-750D-1995 1995年 发布单位 美国国防部标准化文件(含MIL标准) 替代标准 MIL MIL-STD-750E-2006 当前最新 MIL MIL-STD-750F-2012 适用范围 本标准制定了测试半导体器件的统一方法,包括基本环境测试(用于确定器件对自然因素和军事行动周围环境的有害影响的抵抗力)以及物理和电气测试。就本标准而言,“...
网页http://www.liteon.com.tw/databook/default.htm 标志 功能描述MeetROHS,GreenProductExtrathin0.30HmmChipLEDExtrabrightA1InGaPChipLED 类似零件编号 - MIL-STD-750D 制造商部件名数据表功能描述 Lite-On Technology Corp...MIL-STD-750D 718Kb/11PMeet ROHS, Green Product Ultra bright A1InGaP Chip LED...
MIL-STD-750D METHOD2006 CONSTANTACCELERATION 1.Purpose.Theconstantaccelerationtestisusedtodeterminetheeffectondevicesofacentrifugalforce.Thistestisan acceleratedtestdesignedtoindicatetypesofstructuralandmechanicalweaknessesnotnecessarilydetectedinshockandvibration tests. 2.Apparatus.Constantaccelerationtestsshallbemadeonanap...
品牌:LITEON(台湾光宝) 商品型号:MIL-STD-750D 产品状态:在售 封装规格:- 数据手册: DATASHEET 商品编号:L103260706 商品参数 商品类目 集成电路 品牌 LITEON(台湾光宝) 封装规格 - 包装 整包装 根据勾选的参数属性查找商品。 海量现货,种类齐全 报价讯捷,闪电出货 原厂渠道,正品保证 批量采购,支持议价 专...
17 p. ASTM D5778-20 标准测试方法土壤的电子摩擦锥和压电锥渗透测试 66 p. EN 50522-2010 Earthing of power installations exceeding 1 kV a.c. 454 p. IEC 60601-1-8-2020 医用电气设备 - 第 1-8 部分:基本安全和基本性能的一般要求 - 附属标准:医用电气设备和医用电气系统中报警系统的一般要 ...
美国军标750,半导体测试方法。总共730页。完整版 MIL STD 750D 美国军标2013-01-07 上传大小:5.00MB 所需:47积分/C币 论文研究 - SGK1抑制ULK2自噬活性 血清和糖皮质激素诱导的激酶1(SGK1)已知具有磷酸化位点RxRxx-(S / T)-Φ的共有序列,其中Φ是任何疏水性氨基酸,精氨酸残基在相对的-5和-3位置保守到在...
MIL-STD-750E-2006是美国国防部发布的半导体器件测试方法标准,取代了之前的MIL-STD-750D版本。该标准详细规定了半导体器件的测试程序和方法,旨在确保这些器件在各种军事和航空航天应用中的可靠性和性能。 标准涵盖了广泛的半导体器件类型,包括二极管、晶体管、集成电路等。测试方法包括电气特性测试、环境测试、机械测试等...