INCH–POUND MIL–STD–750–1 3 January 2012 SUPERSEDING MIL–STD–750E (IN PART) 20 November 2006 (see 6.4) DEPARTMENT OF DEFENSE TEST METHOD STANDARD ENVIRONMENTAL TEST METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICES PART 1: TEST METHODS 1000 THROUGH 1999 AMSC N/A FSC 5961 The documentation and process...
MIL-STD-750-1-2022正版 下载积分: 3000 内容提示: AMSC N/A FSC 5961 DISTRIBUTION STATEMENT A. Approved for public release. Distribution is unlimited. INCH-POUND MIL−STD−750−1B 15 August 2022 SUPERSEDING MIL−STD−750−1A W/CHANGE 4 15 April 2021 DEPARTMENT OF DEFENSE TEST ...
MIL-STD-750_1 下载积分: 0 内容提示: INCH–POUND MIL–STD–750–1 3 January 2012 SUPERSEDING MIL–STD–750E (IN PART) 20 November 2006 (see 6.4) DEPARTMENT OF DEFENSE TEST METHOD STANDARD ENVIRONMENTAL TEST METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICES PART 1: TEST METHODS 1000 THROUGH 1999 AMSC N...
MIL MIL-STD-750-1B-2023 发布 2023年 总页数 177页 发布单位 美国国防部标准化文件(含MIL标准) 《军事标准750-1B修订版2》 MIL−STD−750−1B w/CHANGE 2 适用范围: 本部分的测试方法适用于半导体器件的基本环境试验,以确定其对自然因素和军事操作周围条件有害影响的抵抗能力。所使用的术语“器件”...
MIL–STD–750–1 ii FOREWORD 1.ThisstandardisapprovedforusebyallDepartmentsandAgenciesoftheDepartmentofDefense. 2.Thisentirestandardhasbeenrevised.Thisrevisionhasresultedinmanychangestotheformat,butthemost significantoneisthesplittingthedocumentintoparts.SeeMIL–STD–750forthechangesummary. ...
DLA MIL-STD-750-1 CHANGE 2-2013相似标准 MIL MIL-STD-750-1B-2023半导体器件环境试验方法第1部分:试验方法1000至1999JB/T 8949.2-1999 电流大于100A普通整流管DLA MIL STD 750 2-2012测试方法半导体器件标准机械测试方法第2部分:2001年至2999年的测试方法DLA MIL-STD-750-2 CHANGE 3-2013测试方法半导体器件...
系列: 军用,MIL-STD-883 制造商 : Analog Devices Inc. 放大器类型 : J-FET 电路数 : 1 输出类型 : - 压摆率 : 100 V/µs 增益带宽积 : 16MHz -3db 带宽 : 16MHz 电流- 输入偏置 : 750pA 电压- 输入失调 : 250µV 电流- 电源 : 10mA ...
MIL–STD–750–1 ii FOREWORD 1.ThisstandardisapprovedforusebyallDepartmentsandAgenciesoftheDepartmentofDefense. 2.Thisentirestandardhasbeenrevised.Thisrevisionhasresultedinmanychangestotheformat,butthemost significantoneisthesplittingthedocumentintoparts.SeeMIL–STD–750forthechangesummary. ...
INCH-POUND MIL−STD−750−1B w/CHANGE 2 18 April 2023 SUPERSEDING MIL−STD−750−1B w/CHANGE 1 31 January 2023 DEPARTMENT OF DEFENSE TEST METHOD STANDARD ENVIRONMENTAL TEST METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICES PART 1: TEST METHODS 1000 THROUGH 1999 The documentation and process ...
美国国防部标准化文件(含MIL标准) 购买 正式版 《军事标准750-1B修订版2》 MIL−STD−750−1B w/CHANGE 2 适用范围: 本部分的测试方法适用于半导体器件的基本环境试验,以确定其对自然因素和军事操作周围条件有害影响的抵抗能力。所使用的术语“器件”包括晶体管、二极管、电压调节器、整流器、隧道二极管和其...