还有一些因素也能触发Latch-up现象,如操作温度、操作电源电压的大小、进入和退出Latch-up的时间等等,这些因素都有可能导致Latch-up的发生。 测试方法与标准 Latch-up研究需要精细的实验手段和测试方法。为了保证实验可重复性,需要遵循ISO 7637、IEC 61000-4-2等标准在电路板中注入不同强度的电源干扰,然后测试芯片
Latch up测试是为了验证电路的稳定性和可靠性,以确保电路能够正常工作并长期稳定运行。 Latch up是一种瞬态故障,通常发生在集成电路中存在PNPN结构的电路,例如CMOS电路或双极性晶体管。这种结构使得电路在特定条件下会形成一个自反馈回路,导致电流大幅度增加,进而导致电路失效。 Latch up测试通常包括以下步骤: 1.设计...
闩锁效应是指在CMOS集成电路中寄生的PNP和NPN双极型晶体管相互影响而产生的一种低阻抗通路,从而产生大电流。由于正反馈作用,该状态会被持续维持(即“闩锁”),从而导致集成电路失效,严重时可能造成器件烧毁。 示意图 等效电路 Latch up标准及测试方法 常见测试标准 JESD78与AEC-Q100-004 测试方法 闩锁测试实际是通过...
Latch-Up_JESD78E 国际芯片可靠性标准.pdf,JEDEC STANDARD IC Latch-Up Test g n a W y e k JESD78E c (Revision of JESD78D, November 2011) a J APRIL 2016 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION Downloaded by wang jackey (wangzhiqi@163.com) on Sep 29, 2021, 11
Latch up测试标准是一种用于评估集成电路(IC)耐受性的方法。Latch up指的是当IC中的两个相互耦合的PNP和NPN晶体管形成一个正馈回环时所发生的异常状态。 在Latch up测试中,通过施加特定的电压和电流条件,以及监测电流和电压的变化,以评估IC是否存在Latch up现象。测试标准主要包括以下几个方面: ...
latch up测试标准 Latchup测试是电路设计中非常重要的一部分，用于确保电路在各种情况下都能正常工作。本测试标准旨在为电路设计人员提供一套清晰、准确、可操作的测试方法，以确保Latchup现象不会对电路性能产生不良影响。一、测试目的 1.确保Latchup不会在电路中发生；2.验证Latchup防护措施的有效性；3.确保电路在不...
1.LatchUp基础知识:包括LatchUp定义、基本原理、特点等。 2.LatchUp应用技能:包括LatchUp在电路设计、调试、测试等方面的应用技能。 3.实际案例分析:根据实际工作场景,对LatchUp应用案例进行分析和解决。 三、考核标准 1.知识掌握程度: a.正确回答LatchUp基础知识试题的比例; b.能够运用LatchUp基础知识进行电路设计...
JEDEC JESD78F-2022的标准全文信息,本文件定义了集成电路Latch-Up测试的范围、目的和限制。集成电路Latch-Up测试, IC Latch-Up Test, IC Latch-Up Test, 提供JEDEC JESD78F-2022的发布时间、引用、替代关系、发布机构、适用范围等信息,也提供PD
项目名称:中国电子技术标准化研究院车规级芯片测试认证标准研究与检测平台建设--Latch-up试验设备采购项目 项目编号:*** 招标范围:Latch-up试验设备 招标机构:*** 招标人:中国电子技术标准化研究院 开标时间:***-**-** **:** 公示时间:***-**-** **:** - *...