本测试标准旨在为电路设计人员提供一套清晰、准确、可操作的测试方法,以确保Latchup现象不会对电路性能产生不良影响。 一、测试目的 1.确保Latchup不会在电路中发生; 2.验证Latchup防护措施的有效性; 3.确保电路在不同工作条件下都能正常工作。 二、测试范围 1.电源电路; 2.信号传输线路; 3.数字和模拟电路; ...
Latch up测试是为了验证电路的稳定性和可靠性,以确保电路能够正常工作并长期稳定运行。 Latch up是一种瞬态故障,通常发生在集成电路中存在PNPN结构的电路,例如CMOS电路或双极性晶体管。这种结构使得电路在特定条件下会形成一个自反馈回路,导致电流大幅度增加,进而导致电路失效。 Latch up测试通常包括以下步骤: 1.设计...
1.LatchUp基础知识:包括LatchUp定义、基本原理、特点等。 2.LatchUp应用技能:包括LatchUp在电路设计、调试、测试等方面的应用技能。 3.实际案例分析:根据实际工作场景,对LatchUp应用案例进行分析和解决。 三、考核标准 1.知识掌握程度: a.正确回答LatchUp基础知识试题的比例; b.能够运用LatchUp基础知识进行电路设计...
还有一些因素也能触发Latch-up现象,如操作温度、操作电源电压的大小、进入和退出Latch-up的时间等等,这些因素都有可能导致Latch-up的发生。 测试方法与标准 Latch-up研究需要精细的实验手段和测试方法。为了保证实验可重复性,需要遵循ISO 7637、IEC 61000-4-2等标准在电路板中注入不同强度的电源干扰,然后测试芯片的...
Latch up测试标准是一种用于评估集成电路(IC)耐受性的方法。Latch up指的是当IC中的两个相互耦合的PNP和NPN晶体管形成一个正馈回环时所发生的异常状态。 在Latch up测试中,通过施加特定的电压和电流条件,以及监测电流和电压的变化,以评估IC是否存在Latch up现象。测试标准主要包括以下几个方面: 1. 电源电压:通过...
JESD78B_200812_LATCHUP标准
JEDEC STANDARD IC Latch-Up Test JESD78B (Revision of JESD78A, November 2005) DECEMBER 2008 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION 阅读了该文档的用户还阅读了这些文档 1 p. 部分米制普通螺纹,同意螺纹(美制)惠氏螺纹(英制)对照表 74 p. 轮系38164 2 p. 辩证看压力 8 p. 辛普森式四档行星...
Latch-Up_JESD78E 国际芯片可靠性标准.pdf,JEDEC STANDARD IC Latch-Up Test g n a W y e k JESD78E c (Revision of JESD78D, November 2011) a J APRIL 2016 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION Downloaded by wang jackey (wangzhiqi@163.com) on Sep 29, 2021, 11
其他标准 JEDEC JESD22-A103C-2004 高温贮存ANSI ESDA JEDEC JS-002-2018 用于静电放电灵敏度测试带电器件模型 (CDM) 器件级 JEDEC JESD78F-2022相似标准 SP5.4.1-2017 CMOS/BiCMOS集成电路Latch-upSensitivity TestingLatch-upTesting Device LevelGJB 9389-2018集成电路锁定试验方法SJ 20954-2006集成电路锁定试验...
意向详情: 中国电子技术标准化研究院需要采购Latch-up试验设备,寻求优质供应商. 来晚啦,当前用户需求已被“其他公司”承接,您可查看下方【相似商机】获取更多线索。推荐您订阅类似商机,第一时间获取销售线索。 登录后查看可解锁条数 以上信息由用户提供并负责真实、准确、合法性,请谨慎甄别,如发现违法/侵权信息,请与...