JEDEC JESD22-B108B-2010 下载积分: 2500 内容提示: JEDEC STANDARD Coplanarity Test for Surface-Mount Semiconductor Devices JESD22-B108B (Revision of JESD22-B108A, January 2003) SEPTEMBER 2010 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION ... 文档格式:PDF | 页数:14 | 浏览次数:683 | 上传日期:2020-...
JESD22-B108B Coplanarity Test for Surface-Mount Semiconductor Devices 表贴半导体器件的共面性试验.pdf,JEDEC STANDARD Coplanarity Test for Surface-Mount Semiconductor Devices JESD22-B108B (Revision of JESD22-B108A, January 2003) SEPTEMBER 2010 JEDEC SOLID
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国际标准分类中,jedec jesd22-b108b涉及到半导体分立器件、电子元器件综合、表面处理和镀涂、信息技术用语言、信息技术应用。在中国标准分类中,jedec jesd22-b108b涉及到通用电子测量仪器设备及系统、电子元件综合、石英晶体、压电元件、电子测量与仪器综合、基础标准与通用方法、敏感元器件及传感器、半导体分立器件综合、...
国际标准分类中,jesd22-b108b涉及到半导体分立器件。 在中国标准分类中,jesd22-b108b涉及到通用电子测量仪器设备及系统。 未注明发布机构,关于jesd22-b108b的标准 JEDEC JESD22-B104C-2004(2009)机械冲击试验方法 JESD22-B104C (修订自JESD22-B104-B) ...
表面贴装半导体器件的共面性测试, Coplanarity Test for Surface-Mount Semiconductor Devices, 提供JEDEC JESD22-B108B-2010的发布时间、引用、替代关系、发布机构、适用范围等信息,也提供PDF预览(如果有PDF)以及下载地址(如果可以下载)。