In 2011, such an instrument was installed at the University of Illinois at Chicago: the aberration-corrected cold-field emission JEOL JEM-ARM200CF, capable of atomic-resolution imaging and spectroscopy in a temperature range between 80–1300 K. This paper will review a number of studies focusing...
• Atomic-Resolution Characterization Using the Aberration-Corrected JEOL JEM-ARM200CF at the University of Illinois – Chicago• Quantitative Characterization of Magnetic Materials Based on Electron Magnetic Circular Dichroism with Nanometric Resolution Using the JEM-1000K RS Ultra-High Voltage STEM•...
JEM-ARM300F配备了JEOL自主研发的球差校正器,zei高加速电压可达300kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界zei高的STEM-HAADF像分辨率。 STEM-HAADF像的保证分辨率达到了前所未有的63pm 采用JEOL自主研发的球差校正器,扫描透射像(STEM像)的保证分辨率可达63pm(300kV,超高分辨率极靴、使用STEM球差校正器时)。
整体稳定性高、直径330mm的镜筒增加了机械刚度, 在JEM-ARM200F高度稳定的技术基础之上,把电气稳定性和对环境的抗干扰能力提高到新高度。 冷场发射12极子球差校正透射电镜信息由日本电子株式会社(JEOL)为您提供,如您想了解更多关于冷场发射12极子球差校正透射电镜报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。 2020...
日本JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜,实现了世界Z高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配备了JEOL自主研发的球差校正器,Z高加速电压可达300kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界Z高的STEM-HAADF像分辨率。 详细介绍 JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜 ...
JEM-ARM300F 实现了高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配备了JEOL自主研发的球差校正器,高加速电压可达300kV,是一款原子分辨率电子显微镜。实现了高的STEM-HAADF像分辨率。 产品规格: 分辨率 300 kV,80 kV 物镜种类※1 UHR靴 HR靴 STEM分辨率(300kV) 使用STEM校正器 ...
日本电子株式会社(JEOL Ltd.)2022年2月18日正式公布新一代200KV冷场发射冷冻电镜CRYO ARM™ 200 II (JEM-Z200CA), 主要用于蛋白质的单颗粒分析,该电镜已于2022年1月陆续发货。 研发背景 不同的研究目的对电镜配置要求各异,在结构生物学中亦是如此。Tomograp...
In 2011, such an instrument was installed at the University of Illinois at Chicago: the aberration-corrected cold-field emission JEOL JEM-ARM200CF, capable of atomic-resolution imaging and spectroscopy in a temperature range between 80–1300 K. This paper will review a number of studies focusing...
The new JEOL JEM‐ARM200CF at the University of Illinois at Chicagodoi:10.1002/crat.201300200R. F. KlieA. GulecZ. GuoT. PaulauskasQ. QiaoR. TaoC. WangK. B. LowA. W. NichollsP. J. PhillipsJohn Wiley & Sons, Ltd
JEM-ARM300F配备了JEOL自主研发的球差校正器,zei高加速电压可达300kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界zei高的STEM-HAADF像分辨率。 STEM-HAADF像的保证分辨率达到了前所未有的63pm 采用JEOL自主研发的球差校正器,扫描透射像(STEM像)的保证分辨率可达63pm(300kV,超高分辨率极靴、使用STEM球差校正器时)。