JEOL FE-SEM 的Z佳光阑角控制镜 JEOL FE-SEM采用了Z佳光阑角控制镜(ACL),这样,即使照射样品的探针电流很大,与从前相比,也能获得很小的电子束斑。 大探针电流时,用ACL 能获得很小的电子束斑。 探针电流大的时候,束斑直径也变大。 样品: 金属材料 (Cu、Ag、Sn、Pb) 倍率:×15,000 加速电压: 5 kV 探...
JEOL’s information. JEOL is a global leader in TEM, SEM, NMR, MS and other.scientific/medical/semiconductor/industrial instruments.
JEOL (Germany) GmbH Tout sur JEOL Classification du produit JEOL SEM Series Catégories de produits microscopes électroniques à balayagemicroscopes électroniques Applications analyse de la microstructureanalyse de surfaceanalyse des particulesassurance qualitéanalyse environnementaleimagerie à haute résolution...
JEOL新一代FE-SEM旗舰机型。 它继承了上一代广获好评的如极高的空间分辨率、高稳定性、多种功能等性能的同时,操作性能极大地简单化。 该设备不依赖操作者的技能,始终能够发挥其最佳性能。 主要特点: ◇ Neo Engine(New Electron Optical Engine) 新一代电子光学控制系统Neo Engine(New Electron Optical Engine),...
EDN - JEOL FE-SEM enables sub-nm imaging, analysisSusan Nordyk
JSM-IT800 有五种版本,提供不同的物镜:混合型物镜 (HL),这是一种通用 FE-SEM;超级混合物镜(SHL/SHLs,具有不同功能的两种版本),可实现更高分辨率的观察和分析;以及新开发的半浸没式物镜(i/is,具有不同功能的版本),适用于纳米材料、化学、新材料、半导体器件的观察和分析。此外,JSM-IT800 还可以配备新型闪烁...
JEOL’s information. JEOL is a global leader in TEM, SEM, NMR, MS and other.scientific/medical/semiconductor/industrial instruments.
JEOL has released the JSM-IT800 FE-SEM, the most powerful SEM to date, guaranteeing a resolution of 0.5nm @ 15kV and 0.9nm at 500V. The JSM-IT800 incorporates our In-lens Schottky Plus field emission electron gun for high resolution imaging to fast elemental mapping, and an innovative el...
本研討會將邀請日本JEOL公司與英國OXFORD公司的專家分別針對JEOL最新型的熱場FE-SEMJSM-7600與OXFORD最新發表的Liquid-nitrogenfree的EDX與HKL的EBSD做詳細的介紹。另外會中亦將介紹材料測試樣品製備中的一大利器CP(CrossSectionPolisher)及搭配LaB6與FEGgun的FIB新機台。為了追求更高的解析度與多功能的全方位鑑定,咸信...
JEOL SEM说明书